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754型紫外可見分光光度計
754型紫外可見分光光度計適用于對紫外、可見光譜區(qū)域內(nèi)物質(zhì)的含量進行定量分析，可廣泛應(yīng)用于工廠、學(xué)校、冶金、農(nóng)業(yè)、食品、生化、環(huán)保、石油化工、及各科研等單位實驗室。
技術(shù)參數(shù):
參數(shù) | |
單色器 | C-T式單色器，1200線全息光柵 |
檢測器 | 硅光二極管 |
顯示器 | 128×64大屏幕液晶顯示 |
光源 | 鹵鎢燈20W/12V，氘燈，光源切換波長可設(shè)定 |
光譜帶寬 | 4nm |
波長范圍 | 190~1100nm（步進間隔0.1nm） |
波長大允許誤差 | ±1.0nm（開機自動校準） |
波長重復(fù)性 | ≤0.5nm |
測定范圍 | T：-1.0~200.0%T ，A：-0.5~3.000Abs，F(xiàn)：0~9999，C：0~9999 |
透射比允許誤差 | ±0.5%T |
透射比重復(fù)性 | ≤0.2%T |
雜散光 | ≤0.3%T（在220、360nm處） |
穩(wěn)定性/噪聲 | 暗電流＜0.2%T 、亮電流＜0.5%T |
數(shù)據(jù)輸出 | USB接口，LPT并行打印接口 |
電源 | 220V±10% 50Hz，70W |
外形尺寸 | 456×375×220 mm |
凈重 | 17.5k |
自動波長，鍵盤輸入，波長設(shè)定和轉(zhuǎn)換更快速。一階過零、一階線性標準曲線測試，可建立12個標樣點的標準曲線。標定曲線擬合，濃度直讀，可保存50條曲 線參數(shù)。濃度因子設(shè)定和濃度設(shè)定的濃度直讀功能，可保存200條測試記錄。系統(tǒng)時鐘管理，暗電流校正，波長校正，USB數(shù)據(jù)接口,燈切換波長設(shè)置。
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