二手高分辨率場發(fā)射電鏡是電子顯微鏡的一種，掃描電鏡(SEM)是介于透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像，廣泛用于生物學、醫(yī)學、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質礦物、商品檢驗、產品生產質量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析?？梢杂^察和檢測非均相有機材料、無機材料及在上述微米、納米級樣品的表面特征。

二手高分辨率場發(fā)射電鏡技術特點：
1. 優(yōu)秀的低加速電壓成像能力，1kv分辨率可達1.3nm
2. 日立ExB設計，不需噴鍍，可以直接觀測不導電樣品
3. 配置Lower、Upper和Top三個Everhart-Thornley型探測器
4. Upper和Top探頭均可選擇接受二次電子像或背散射電子像
5. 可以根據樣品類型和觀測要求選擇打開或關閉減速功能
6. 標配有冷指、電子槍內置加熱器，物鏡光闌具有自清潔功能
7. 儀器的烘烤維護及烘烤后的透鏡機械對中均可由用戶自行完成 

二手高分辨率場發(fā)射電鏡詳細介紹

高分辨冷場發(fā)射掃描電子顯微鏡 日立掃描電子顯微鏡采用大樣品室的半內透鏡設計，卻能達到超高分辨率，可以與內透鏡UHR掃描電鏡相媲美。
特點：
1. 新型物鏡采用設計。使用單檢測器和超級ExB可以分別收集和分離單純 二次電子、混合二次電子及背散射電子的信號。
2. 1KV低加速電壓時保證有2.0nm的分辨率。
3. 兩種樣品臺可選：I型50mm x 50mm小樣品臺或Ⅱ型110mm x 110mm大樣品臺。
4. 包括渦輪分子泵在內的*進的真空系統(tǒng)。
5. 便于用戶使用的、基于圖形用戶界面的控制系統(tǒng)，包含多種自動功能，
操作簡易性能指標： 二次電子分辨率 1.0nm (15kV) 2.0nm (1 kV) 1.4nm (1 kV，減速模式)
電子槍 冷場發(fā)射電子源
加速電壓 0.5~30kV(0.1KV/步，可變)
放大倍率 x 20~ x 800,000
物鏡光闌 4孔，真空外選擇和調校(內置加熱器)
檢測器 二次電子檢測器 (高位/低位) 背散射電子檢測器(可選) EDX(可選) 透射電子檢測器(可選) 法拉第杯(可選)
樣品臺 l型: X: 0~50mm Y: 0~50mm Z:1.5~30mm T: -5°~70°R:360°
驅動:手動(可選3軸/5軸馬達驅動) ll型: X: 0 ~110 mm Y: 0 ~110mm Z: 1.5 ~40 mm T: -5°~ 70° R: 360°驅動: 5軸馬達驅動
操作/顯示 操作系統(tǒng)： WindowsTM XP
圖像儲存 640 x 480, 1,280 x 960, 2,560 x 1,920,5,120 x 3,840
離子泵 3 臺 渦輪分子泵(磁浮型) 1 臺 機械泵 1 臺

場發(fā)射掃描電子顯微鏡的案例分析

實例一：客戶要求對LED熒光填充物進行成分分析

實例二：客戶需對碳納米管和石墨烯進行SEM形貌觀察