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詳細摘要： 二手 日本電子 SEMIT100掃描電鏡主要特點為全數(shù)字化控制系統(tǒng)，高分辨率、高精度的變焦聚光鏡系統(tǒng)、全對中樣品臺及高靈敏度半導體背散射探頭；用于各種材料的形貌組織觀察、金屬材料斷口分析和失效分析。該型號在很多大學、研究院所及制造業(yè)被廣泛使用。

詳細摘要： 二手FEI+JEOL+HITACHI掃描電鏡：掃描電鏡（SEM）是利用電子束掃描樣品表面，產生二次電子等信號，通過檢測這些信號來獲取樣品表面形貌、成分等信息。SEM的優(yōu)點是分辨率高，可觀察到納米級別的細節(jié)，景深大，能清晰呈現(xiàn)三維形貌，可同時進行成分分析。

詳細摘要： 二手ZEISS-FEI掃描電鏡掃描電子顯微鏡作為一種強大的微觀分析工具，能夠實現(xiàn)對樣品表面形貌的高分辨率觀察，為材料科學、生物醫(yī)學、地質學等多個領域的研究提供了強大的技術支持。以其出色的分辨率和廣泛的放大倍數(shù)范圍，能夠滿足不同研究領域的精細觀察需求。

詳細摘要： 二手日本電子（SEM）IT-300提供高畫質圖像，能滿足您對 W-SEM 機型的期待，鏡筒設計和掃描系統(tǒng)使得不導電樣品的圖像質量有所提高

詳細摘要： 二手日本電子SEM+EDX JSMIT300掃描電子顯微鏡經過改進照射系統(tǒng)、真空系統(tǒng)和信號處理系統(tǒng)，不僅能觀察高質量的圖像，還能利用觸控屏和快速樣品臺進行高通量的直觀操作。JSM-IT300 提供高畫質圖像，能滿足您對W-SEM機型的期待，新的鏡筒設計和掃描系統(tǒng)使得不導電樣品的圖像質量有了顯著的提高。

詳細摘要： 二手FEI-SEM電鏡 FEI-QUANTA250 FEI Quanta 系列包括六款可變壓力和環(huán)境掃描電子顯微鏡 (ESEM™)。所有這些產品均可滿足工業(yè)工藝控制實驗室、材料科學實驗室和生命科學實驗室的多種樣本和成像要求。

詳細摘要： （2手）掃描電鏡SEM+EDX分析型掃描電子顯微鏡，與日本電子公司的元素分析儀（EDS），統(tǒng)合于一體。結構緊湊的EDS由顯微鏡主體系統(tǒng)的電腦控制，操作員只用一只鼠標，就可完成從圖像觀測到元素分析的整個過程。

詳細摘要： 日立SEM二手S-4300掃描電子顯微鏡采用大樣品室的半內透鏡設計，卻能達到分辨率，可以與內透鏡UHR掃描電鏡相媲美。