詳細介紹
日立二手電鏡SEM+EDX
1.樣品要求:粉體需5mg左右;塊體長寬高需小于10mm(超出該尺寸請?zhí)崆奥?lián)系技術顧問確認,鑲嵌樣及多孔材料抽真空時間較長,尺寸盡量小一些,非特殊原因請務必按要求制樣,以免耽誤測試效果及周期);液態(tài)或粘稠樣品務必烘干寄樣,如電子束照射下流動變形,則無法拍攝;
2. 此項目需提前聯(lián)系技術顧問預約測試時間!下單后技術顧問根據(jù)樣品要求和數(shù)量預估測試時長,從樣品進樣開始計時,最終以實際測試為準,多退少補;現(xiàn)場測試請聯(lián)系技術顧問確認現(xiàn)場地址及時間,建議提20min到現(xiàn)場制樣及噴金(需要特殊制樣方式請?zhí)崆罢f明),遠程視頻測試默認收到樣品后確認測試時間.
3. 特別注意:無法測試強磁材料;若樣品有磁性(含鐵/鈷/錳/鎳元素),請?zhí)崆罢f明;常規(guī)倍數(shù)可達5w-10w,最大20萬倍,但實際效果和樣品性質有關,若樣品有磁性或導電性差,高倍下不能保證好的效果,敬請理解!
4. 此項目為計時收費,請在樣品數(shù)量處填1;
5. 如有其他疑問,請聯(lián)系前期對接的技術顧問;
結果展示
日立二手電鏡SEM+EDX表面形貌
能譜EDS
點掃
mapping
主要技術指標· 鎢燈絲電子槍;· 加速電壓:0.2~30 kV,連續(xù)可調;· 放大倍數(shù):6×~1200,000×;· 30 kV高壓下,分辨率:3.5 nm; 3 kV電壓下,分辨率:15 nm; 環(huán)境掃描條件下,分辨率:3.5 nm; 能譜儀分辨率:133 eV主要功能及應用范圍· 納米材料、復合材料、陶瓷材料、金屬材料、高分子材料、薄膜材料、建筑材料、生物材料、電子材料、導體與非導體地礦、考古等表面微觀形貌觀察及成分分析。