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二手FEI+JEOL+HITACHI掃描電鏡

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  • 型號
  • 品牌 ZEISS/蔡司
  • 廠商性質(zhì) 代理商
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  • 所在地 深圳市

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更新時間:2024-11-14 11:08:34瀏覽次數(shù):397

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產(chǎn)品簡介

背散射電子圖像分辨率 4.0nm@30KV 產(chǎn)地類別 進(jìn)口
二次電子圖象分辨率 3.0nm @ 30KV WD 8mmnm 放大倍數(shù) ×5~×300,000x
加速電壓 0.5KV ~ 30KVkV 價格區(qū)間 100萬-150萬
儀器種類 六硼化鑭 應(yīng)用領(lǐng)域 化工,農(nóng)林牧漁,能源,電子/電池,汽車及零部件
二手FEI+JEOL+HITACHI掃描電鏡:掃描電鏡(SEM)是利用電子束掃描樣品表面,產(chǎn)生二次電子等信號,通過檢測這些信號來獲取樣品表面形貌、成分等信息。SEM的優(yōu)點是分辨率高,可觀察到納米級別的細(xì)節(jié),景深大,能清晰呈現(xiàn)三維形貌,可同時進(jìn)行成分分析。

詳細(xì)介紹

二手FEI+JEOL+HITACHI掃描電鏡

    SEM "觀察"樣品表面的方式可以比作一個人獨自在暗室中使用手電筒(窄光束)掃描墻上的物體。從墻的一側(cè)到另一側(cè)進(jìn)行掃描,手電筒再逐漸向下移動掃描,人就可以在記憶中建立起物體的圖像。SEM是用電子束代替了手電筒,并用電子探測器代替眼睛,用觀察屏幕和照相機(jī)作為圖像存儲器。電子是原子中帶負(fù)電荷的粒子。在光鏡中,光子由玻璃透鏡聚焦。在電鏡中,電磁鐵用于聚焦電子。電子束與樣品表面的相互作用會影響獲得的圖像。SEM可以提供跨微米和納米尺度研究,分辨率通常在3-0.5nm之間,最高的分辨率可以達(dá)到0.4nm。SEM通??蓪悠返募?xì)節(jié)放大約10倍至30萬倍(底片倍數(shù)的有效放大倍數(shù))。此外,SEM圖像上通常會提供一個刻度條,刻度條用于計算圖像中特征的大小。

二手FEI+JEOL+HITACHI掃描電鏡

二手FEI+JEOL+HITACHI掃描電鏡應(yīng)用領(lǐng)域

     SEM是一種廣泛應(yīng)用于科學(xué)和工程領(lǐng)域的技術(shù)。最常見的應(yīng)用領(lǐng)域包括材料科學(xué)、生物科學(xué)、地質(zhì)學(xué)、醫(yī)學(xué)和法醫(yī)學(xué)。SEM還可用于創(chuàng)作數(shù)字藝術(shù)作品。

SEM技術(shù)可以對樣品的形態(tài)進(jìn)行成像(如粉末顆粒,塊狀材料、涂層、切片材料),通過BEE散射電子可以對不同的物相進(jìn)行成像,也可利用生物樣品中的金屬和熒光探針對分子探針進(jìn)行成像,或進(jìn)行微米和納米光刻。

材料科學(xué):SEM是用于基礎(chǔ)研究、質(zhì)量控制和失效分析的重要工具。它是一種適用于檢測金屬、合金、陶瓷、聚合物和生物材料的技術(shù)。SEM在許多課題中發(fā)揮著關(guān)鍵作用,包括納米管和納米纖維、高溫超導(dǎo)體、介孔結(jié)構(gòu)、合金強(qiáng)度等。如果沒有SEM提供的數(shù)據(jù),高科技發(fā)展的許多方面--航空航天、電子、能源、催化、環(huán)境、光子學(xué)、化學(xué)--都將無法實現(xiàn)。

生物科學(xué):在生物科學(xué)領(lǐng)域,從昆蟲和動物組織等大型物體到細(xì)菌等小型物體都可以用SEM進(jìn)行研究。SEM可用于昆蟲學(xué)、考古學(xué)、植物科學(xué)、細(xì)胞研究和分類學(xué)等領(lǐng)域。

地質(zhì)學(xué):SEM在土壤和地質(zhì)樣品調(diào)查中很常見。通過形態(tài)分析可以了解風(fēng)化過程。通過BSE成像可以看到成分差異。顯微分析可提供樣品中特定元素組成的詳細(xì)信息。因此,SEM是采礦業(yè)非常有用的表征工具。

醫(yī)學(xué)科學(xué):醫(yī)學(xué)研究人員可使用SEM比較血細(xì)胞和組織樣品,以確定病因。SEM的其他用途還包括研究醫(yī)學(xué)及其對病人的影響,以及研究和開發(fā)新的治療方法。

法醫(yī)學(xué):在法醫(yī)學(xué)中,警方實驗室使用SEM來檢查和比較證據(jù),如金屬碎片、油漆、墨水、毛發(fā)和纖維,以提供某人有罪或無罪的證據(jù)。通過仔細(xì)檢查,刑偵人員能夠確定從現(xiàn)場收集到的樣品是否具有與刑偵人員所設(shè)想的情景相匹配的特性。

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