 |
深圳市心怡創(chuàng)科技有限公司 |
|
—— 銷售熱線 ——
13723416768 |
蔡司MERLIN 系列場發(fā)射掃描電鏡使用未來的實驗室分析儀器
借助 MERLIN 系列場發(fā)射掃描電鏡，即可在數(shù)秒內完成圖像采集，觀察清晰的原子級分辨率圖像及進行完整的三維表面測量與分析。無論是配備性能出色GEMINI I 鏡筒的入門型 MERLIN Compact 電鏡，或是配備高分辨率 GEMINI II鏡筒的型 MERLIN 電鏡，MERLIN 系列均是未來穩(wěn)固投資的*之選：場發(fā)射掃描電鏡協(xié)助您更好地應對未來工作中的各種挑戰(zhàn)。15 個探測器端口和多個分析選擇，為用戶提供靈活性和擴展性。
MERLIN 系列易于擴展，以適應不斷增長的需求
MERLIN 系列場發(fā)射掃描電子顯微鏡（FE-SEM）可以采集高分辨圖像，做成份分析，獲取樣品全部信息。樣品室配有用于安裝探測器和多種分析功能選項的 15 個端口，協(xié)助您完成從圖像采集到完整的材料分析等一系列工作。根據(jù)應用需求進行功能擴展：MERLIN 系列具備全面的可升級性。
蔡司MERLIN 系列場發(fā)射掃描電鏡應用無極限
使用原子力顯微鏡功能選項，以原子級分辨率獲取半導體樣品的表面結構信息。通過增加 3View® 超
微切機實現(xiàn)大體積生物樣本的三維重構。MERLIN系列的平臺設計與智能化探測器技術，隨時可借助即插即用擴展功能實現(xiàn)系統(tǒng)升級。開放式的系統(tǒng)軟件編程接口，可快速地整合市場上的分析解決方案。
全面便捷的樣品分析
MERLIN 系列的整套探測系統(tǒng)由不同探測器組成：in-lens 二次電子探測器用于高分辨率成像、能量選擇背散射探測器（EsB）用于低電壓成份襯度成像、in-lens duo 探測器用于二次電子和背散射電
子成像，或角度選擇背散射探測器（AsB）用于晶體表面的結構分析。適合對各種材料進行單獨的分析，或與探測器信號一起獲取更豐富的圖像信息。這些只需根據(jù)應用選配一個或多個探測器便可實現(xiàn)。
原子力顯微鏡：獲取深度圖像
如若需要進行納米級表面成像，掃描電子顯微鏡（SEM）則是您的*。然而，所收集到的數(shù)據(jù)往往會缺失一些附加信息：表面三維結構的呈現(xiàn)，或者是在低于納米級的原子尺度上還需要什么信息？
整合了 AFM 功能的 MERLIN 系列讓這類問題迎刃而解。AFM 系統(tǒng)可借助樣品臺更換功能在幾分鐘內提供原子級表面形貌的三維圖像。由于 AFM 技術是在原子尺度上進行校正的，可為掃描電子顯微鏡用戶提供所需分辨率。
與獨立的 AFM 系統(tǒng)相比，AFM/SEM 的結合使用能提供更豐富的信息：SEM 提供的高分辨率大面積預覽，可快速地將懸臂系統(tǒng)直接移至感興趣的區(qū)域。使用方便又高效。通過兩種方式的結合使用獲得更多的信息，例如通過 AFM 檢測電子束對半導體電勢的影響。
【技術參數(shù)】
分辨率：0.8nm @ 15kV
1.6nm @ 1kV
放大倍數(shù)：范圍: 12～2,000,000×
加速電壓：調整范圍：20 V～30 kV
探針電流：5 pA～20 nA（12pA—100nA可選）
樣品室：330(φ) x 270mm（h）
樣品臺：5軸優(yōu)中心全自動 X=130 mm
Y=130 mm Z=50 mm
T=-3°- 70°
R=360 °連續(xù)
系統(tǒng)控制：基于Windows 7的SmartSEM操作系統(tǒng)，可選鼠標、鍵盤、控制面板控制功能：掃描電鏡可對金屬、陶瓷、礦物、巖石、生物等樣品以及各種固體材料進行觀察和分析研究。對各種材料的形貌組織觀察，材料斷口分析和失效分析，材料實時微區(qū)成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面掃描和線掃描分布測量，晶體/晶粒的相鑒定，晶粒尺寸、形狀分析，晶體、晶粒取向測量。X-射線能量色散譜儀(EDS)，可進行微區(qū)的常量元素定性和定量分析。EBSD相關配件可以做t-EBSD 花樣質量圖、相分布圖、取向分布圖、制圖以統(tǒng)計晶粒大小、高角度分辨率 t-EBSD 分布圖檢測變形帶、同步采集 EDS獲得Cu 、Mg等元素分布圖、夾雜物等方面的分析。
目前，掃描電鏡及相關附件已完成了電鏡、EDS、EBSD等主要設備的安裝調試及培訓，后續(xù)將盡快完成原位拉伸臺的安裝培訓，以及SPT-20離子濺射儀、WT-DJ02電解拋光等制樣設備的安裝調試等工作。
化工儀器網(wǎng)