詳細(xì)介紹
二手鎢燈絲電鏡 二手SEMJSM-IT200A掃描電子顯微鏡
主要特長(zhǎng)
優(yōu)秀電子光學(xué)系統(tǒng)
JSM-IT200A是株式會(huì)社最新升級(jí)版機(jī)型,集合了分析掃描電鏡精髓功能,結(jié)構(gòu)緊湊、節(jié)省空間,分辨率高。
操作舒適快捷
JSM-IT200A擁有非常直觀的操作系統(tǒng),即使沒有經(jīng)驗(yàn)的用戶也可進(jìn)行操作高品質(zhì)的SEM圖像,以及高效率元素分析。可支持操作觸摸屏。
安裝的靈活性
節(jié)省空間,安裝方便。一個(gè)電源插座就足以安裝。不需要任何冷卻水。
二手鎢燈絲電鏡 二手SEM主要性能
SEI Mode Resolution 二次電子圖像分辨率 | 3.0nm @ 30KV WD 8mm 8.0nm @ 3KV WD 6mm 15.0nm @ 1KV WD 6mm |
專為高通量分析和樣品制備量身打造的SEM
鎢燈絲電鏡掃描電子顯微鏡(FE-SEM)鏡筒的強(qiáng)像和分析性能與新一代聚焦離子束(FIB)的優(yōu)異加工能力相結(jié)合。無(wú)論是切割、成像或進(jìn)行3D分析,Crossbeam系列都能極大地提升您的應(yīng)用體驗(yàn)。使用Gemini電子光學(xué)系統(tǒng),您可以從掃描電子顯微鏡(SEM)圖像中獲取真實(shí)的樣品信息。Ion-sculptor FIB鏡筒引入了全新的FIB加工方法,能夠減少樣品損傷,提升樣品質(zhì)量,從而加快實(shí)驗(yàn)進(jìn)程。
通過為您量身定制的儀器,實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量和高通量的TEM薄片樣品制備。您可以充分利用Crossbeam 350的可變壓力功能,或選擇更適配樣品的樣品倉(cāng)尺寸,用Crossbeam 540對(duì)您急需的樣品實(shí)現(xiàn)更嚴(yán)苛的制備與表征。無(wú)論用于科研機(jī)構(gòu)還是工業(yè)實(shí)驗(yàn)室,單用戶實(shí)驗(yàn)室或多用戶實(shí)驗(yàn)平臺(tái),如果您想獲得高質(zhì)量,高影響力的實(shí)驗(yàn)結(jié)果,模塊化平臺(tái)設(shè)計(jì)可讓您根據(jù)自身需求的變化,隨時(shí)對(duì)儀器系統(tǒng)進(jìn)行升級(jí)。