詳細(xì)介紹
二手蔡司場(chǎng)發(fā)射電鏡 系列產(chǎn)品
用于高品質(zhì)成像與高級(jí)分析的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
靈活的探測(cè),4步工作流程,高級(jí)的分析性能
將高級(jí)的分析性能與場(chǎng)發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合,利用成熟的 Gemini 電子光學(xué)元件。多種探測(cè)器可選:用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像。半自動(dòng)的4步工作流程節(jié)省大量的時(shí)間:設(shè)置成像與分析步驟,提高效率。
性價(jià)比高,裝配有背散射幾何探測(cè)器,可快速方便地實(shí)現(xiàn)基礎(chǔ)分析。任何時(shí)間,任何樣品均可獲得精準(zhǔn)可重復(fù)的分析結(jié)果。
用于清晰成像的靈活探測(cè)
利用先進(jìn)探測(cè)術(shù)為您的需求定制 Sigma,表征所有樣品。
利用 in-lens 雙探測(cè)器獲取形貌和成份信息。
利用新一代的二次探測(cè)器,獲取高達(dá)50%的信號(hào)圖像。在可變壓力模式下利用 Sigma 創(chuàng)新的 C2D 和 可變壓力探測(cè)器,在低真空環(huán)境下獲取高達(dá)85%對(duì)比度的銳利的圖像。
自動(dòng)化加速工作流程
4步工作流程讓您控制 Sigma 的所有功能。在多用戶環(huán)境中,從快速成像和節(jié)省培訓(xùn)首先,先對(duì)樣品進(jìn)行導(dǎo)航,然后設(shè)置成像條件。
首先,先對(duì)樣品進(jìn)行導(dǎo)航,然后設(shè)置成像條件。
接下來(lái)對(duì)樣品感興趣的區(qū)域進(jìn)行優(yōu)化并自動(dòng)采集圖像。最后使用工作流程的最后一步,將結(jié)果可視化。
高級(jí)分析型顯微鏡
將掃描電子顯微鏡與基本分析相結(jié)合:背散射幾何探測(cè)器大大提升了分析性能,特別是對(duì)電子束敏感的樣品。
在一半的檢測(cè)束流和兩倍的速度條件下獲取分析數(shù)據(jù)。
獲益于8.5 mm 短的分析工作距離和35°夾角,獲取完整且無(wú)陰影的分析結(jié)果。
基于成熟的 Gemini 技術(shù)
Gemini 鏡頭的設(shè)計(jì)結(jié)合考慮了電場(chǎng)與磁場(chǎng)對(duì)光學(xué)性能的影響,并將場(chǎng)對(duì)樣品的影響降至更低。這使得即使對(duì)磁性樣品成像也能獲得出色的效果。
Gemini in-lens 的探測(cè)確保了信號(hào)探測(cè)的效率,通過(guò)二次檢測(cè)(SE)和背散射(BSE)元件同時(shí)減少成像時(shí)間。
Gemini 電子束加
用于清晰成像的靈活探測(cè)
利用新的探測(cè)技術(shù)表征所有的樣品。
在高真空模式下利用創(chuàng)新的 ETSE 和 in-lens 探測(cè)器獲取形貌和高分辨率的信息。
在可變壓力模式下利用可變壓力二次電子和 C2D 探測(cè)器獲取銳利的圖像。
利用 aSTEM 探測(cè)器生成高分率透射圖像。
利用 BSD 或者 YAG 探測(cè)
配件
SmartEDX
為您帶來(lái)一體化能譜分析解決方案
如果單采用SEM成像技術(shù)無(wú)法全面了解部件或樣品,研究人員就需要在SEM中采用能譜儀(EDS)來(lái)進(jìn)行顯微分析。通過(guò)針對(duì)低電壓應(yīng)用而優(yōu)化的能譜解決方案,您可以獲得元素化學(xué)成分的空間分布信息。得益于:
優(yōu)化了常規(guī)的顯微分析應(yīng)用,并且由于氮化硅窗口優(yōu)秀的透過(guò)率,可以探測(cè)輕元素的低能X射線。
工作流程引導(dǎo)的圖形用戶界面極大地改善了易用性,以及多用戶環(huán)境中的重復(fù)性。
完整的服務(wù)和系統(tǒng)支持,由蔡司工程師為您的安裝、預(yù)防性維護(hù)及保修提供一站式服務(wù)。
拉曼成像與掃描電鏡聯(lián)用系統(tǒng)
集成化的拉曼成像
在您的數(shù)據(jù)中加入拉曼光譜及成像結(jié)果,獲得材料更豐富的表征信息。通過(guò)擴(kuò)展蔡司Sigma 300,使其具備共聚焦拉曼成像功能,您能夠獲得樣品中化學(xué)指紋信息,從而指認(rèn)其成分。
識(shí)別分子和晶體結(jié)構(gòu)信息
可進(jìn)行3D分析,在需要時(shí)可關(guān)聯(lián)SEM圖像、拉曼面掃描成像和EDS數(shù)據(jù)。
集成RISE讓您體驗(yàn)由先進(jìn)的SEM和拉曼系統(tǒng)帶來(lái)的優(yōu)勢(shì)。
用戶友好,操作簡(jiǎn)單
SmartSEM Touch是現(xiàn)已有操作系統(tǒng)的附加組件,用于多用戶環(huán)境,是一種簡(jiǎn)潔的用戶界面。
它同時(shí)為操作經(jīng)驗(yàn)豐富的專家用戶和初級(jí)用戶提供了簡(jiǎn)便的操作。
基于實(shí)際的實(shí)驗(yàn)室環(huán)境,SEM的操作可能是電子顯微鏡專家的專屬領(lǐng)域。
但是,非專業(yè)用戶(例如學(xué)生,接受培訓(xùn)不久的人員或質(zhì)量工程師)也需要使用SEM獲取數(shù)據(jù),因此也有使用SEM的需求。 Sigma 300和Sigma 300 VP將非專業(yè)用戶的需求考慮在內(nèi),其用戶界面選項(xiàng)可滿足操作經(jīng)驗(yàn)豐富的顯微鏡專家和顯微鏡新手用戶的操作需求。
二手蔡司場(chǎng)發(fā)射電鏡 蔡司Atlas 5-挑戰(zhàn)多尺度分析
Atlas 5可以簡(jiǎn)化您的工作:以樣本為中心的關(guān)聯(lián)環(huán)境下為您創(chuàng)建多尺度、多模式的綜合圖片。Atlas 5集強(qiáng)大的硬件和易于操作的軟件為一體,大大拓展了蔡司掃描電鏡(SEM)的應(yīng)用范圍。
閱讀了解更多