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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
二手 日立 S-4700 冷場(chǎng)發(fā)射電鏡SEM+EDX可以觀察和檢測(cè)非均相有機(jī)、無(wú)機(jī)材料，及這些材料在納米、微米級(jí)樣品的表面特征。該儀器廣泛應(yīng)用于金屬材料、高分子材料、半導(dǎo)體材料、化工原料、地礦物品、寶石文物等微觀形貌的研究及公安刑偵的物證分析。能譜附件可對(duì)樣品進(jìn)行微區(qū)成分分析。
詳細(xì)介紹
二手 日立 S-4700 冷場(chǎng)發(fā)射電鏡SEM+EDX：主要技術(shù)指標(biāo)：
一：加速電壓：500V-30KV；高倍放大倍數(shù)：100-500000，低倍放大倍數(shù)：20-2000；二次電子圖象分辨率在1KV時(shí), S=2.1nm，15KV時(shí)，S=1.5nm ；15KV,S=2100 0,放大倍數(shù)20-500K ；X射線能譜元素分析范圍Be-92U；譜線分辨率129.25e V
:二、主要參數(shù)：
1.電子槍：冷場(chǎng)發(fā)射型；
2.分辨率：≤1.5nm（15KV）；
3.加速電壓：0.5～30KV連續(xù)可調(diào)；
4.放大倍數(shù)：低倍模式，30～2000；高倍模式，250～500000；
5.樣品要求：非磁性塊體,尺寸要求直徑≤3cm,高度≤1cm，導(dǎo)電性良好。
6.?電子槍類型?：冷場(chǎng)發(fā)射型?
7加速電壓?：0.5～30kV，連續(xù)可調(diào)?
?分辨率?：
在15kV時(shí)，二次電子圖像分辨率為1.5nm?12
在1kV時(shí)，二次電子圖像分辨率為2.1nm?12
?放大倍數(shù)?：
低倍模式（LOWMAG）：30～2000倍?34
高倍模式（HIGHMAG）：250～500,000倍?34
?X射線能譜元素分析范圍?：Be-U92?12
?譜線分辨率?：129.25eV?12
主要功能及應(yīng)用范圍
日立S-4700場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡可以觀察和檢測(cè)非均相有機(jī)、無(wú)機(jī)材料的表面特征，廣泛應(yīng)用于金屬材料、高分子材料、半導(dǎo)體材料、化工原料、地礦物品、寶石文物等微觀形貌的研究，以及公安刑偵的物證分析。該儀器還能對(duì)樣品進(jìn)行微區(qū)成分分析?。
查看環(huán)境條件
掃描電子顯微鏡的使用環(huán)境條件主要涉及溫度、濕度、震動(dòng)、磁場(chǎng)強(qiáng)度、接地等幾個(gè)因素。一般情況下，環(huán)境溫度需控制在22～25℃，相對(duì)濕度以小于70%為宜，保證實(shí)驗(yàn)室清潔整齊，避免大聲喧嘩及震動(dòng)、磁場(chǎng)的干擾。溫濕度控制需配備空調(diào)和除濕機(jī)，特別是在南方地區(qū)一定要保證對(duì)濕度的控制，避免溫濕度對(duì)電鏡電子部件的影響。由于場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡的分辨率較高，對(duì)震動(dòng)和磁場(chǎng)強(qiáng)度的要求也較高，所以需盡量避免震動(dòng)和雜散磁場(chǎng)的干擾。一般在安裝時(shí)，建議將電鏡放置在樓體一層，遠(yuǎn)離輸電線路、大功率設(shè)備等，并做防震地基和獨(dú)立地線設(shè)置。電鏡地線要求必須是獨(dú)立地線，即接地體到接線端子均獨(dú)立，避免地線連接到公共接地體。在使用過(guò)程中，若周圍有雜散磁場(chǎng)，在大倍數(shù)觀察時(shí)圖像會(huì)出現(xiàn)縱或橫條紋干擾。總之，日常使用過(guò)程中要嚴(yán)格控制電鏡的環(huán)境條件。以ULTRAPLUS掃描電子顯微鏡為例，環(huán)境條件要求如下：溫度保持在21～25℃，相對(duì)濕度小于65%，磁場(chǎng)強(qiáng)度小于3×10－7T，噪聲強(qiáng)度小于65dB，獨(dú)立地線的接地電阻小于0.1Ω。
檢查真空系統(tǒng)
電鏡中的真空系統(tǒng)一般由真空泵、管道、真空閥門(mén)和真空測(cè)量裝置組成。高真空度可減少電子與氣體分子的碰撞，增加燈絲壽命，所以必須高度關(guān)注真空系統(tǒng)，定期記錄系統(tǒng)真空和槍真空數(shù)值，或是打開(kāi)真空監(jiān)控器（Gun Monitor）實(shí)時(shí)監(jiān)控真空值。對(duì)于ULTRA PLUS掃描電子顯微鏡，需保證系統(tǒng)真空值不小于5.0×10－4Pa，槍真空不低于1.0×10－7Pa。若真空值低于正常狀態(tài)需進(jìn)行必要的檢查和維護(hù)保養(yǎng)，如檢查各真空系統(tǒng)部件或進(jìn)行烘烤操作，具體方法如下：
（1）觀察真空裝置的啟動(dòng)順序及啟動(dòng)時(shí)間。ULTRA PLUS掃描電子顯微鏡真空的啟動(dòng)順序?yàn)闄C(jī)械泵、渦輪分子泵、潘寧規(guī)、離子泵。一般換試樣抽真空時(shí)間為3min。如時(shí)間過(guò)長(zhǎng)，需檢查真空裝置是否為異常啟動(dòng)情況。
（2）判斷分子泵前級(jí)泵的工作狀態(tài)。定期查看分子泵的功率狀態(tài)，操作方法為：打開(kāi)分子泵控制器，查看分子泵功率，若小于10W，則分子泵前級(jí)泵（機(jī)械干泵）無(wú)過(guò)多附加阻力，為正常狀態(tài)；否則，說(shuō)明前級(jí)泵存在過(guò)多負(fù)載。
（3）機(jī)械干泵的維護(hù)。機(jī)械干泵中密封圈為易耗品，隨著機(jī)械摩擦?xí)r間的增加，密封圈變小，給分子泵帶來(lái)過(guò)多負(fù)載，抽真空時(shí)間變長(zhǎng)。一般情況下，機(jī)械干泵的維護(hù)需在1～2a（年）內(nèi)進(jìn)行，即更換密封圈。
（4）若以上問(wèn)題均可排除，則可考慮進(jìn)行烘烤操作，以提高真空度。
以ULTRA PLUS掃描電子顯微鏡真空異常情況為例，解釋說(shuō)明真空故障排除的思路。
在轉(zhuǎn)換高壓或更換試樣時(shí)發(fā)現(xiàn)抽真空時(shí)間過(guò)長(zhǎng)，有時(shí)甚至可達(dá)十幾分鐘或半小時(shí)。于是，首先檢查樣品室O型圈是否脫落，排查機(jī)械密封問(wèn)題；然后更換潔凈、體積小的待測(cè)試樣排查特殊試樣干擾，然后查看真空值大小及階段性抽真空速度，判斷機(jī)械泵或離子泵等真空泵的狀態(tài)；如均無(wú)異常現(xiàn)象則進(jìn)一步觀察電鏡操作軟件中真空狀態(tài)的提示，判斷是否為分子泵控制器的問(wèn)題或其他硬件問(wèn)題；如仍未發(fā)現(xiàn)規(guī)律性可疑問(wèn)題則與維修工程師聯(lián)系，最后重新插拔了高壓線接觸點(diǎn)，解決了該真空故障問(wèn)題。
二手 日立 S-4700 冷場(chǎng)發(fā)射電鏡SEM+EDX售后服務(wù)保障
1、零配件庫(kù)存充足，對(duì)業(yè)務(wù)所及的儀器90%常見(jiàn)的故障準(zhǔn)備了庫(kù)存配件，同時(shí)和廠家保持良好的合作的關(guān)系，零配件有充分的保障。
2、我們?nèi)Υ蛟臁翱於`活"的專業(yè)服務(wù)。到目前為止所有現(xiàn)場(chǎng)服務(wù)需求，我們都能夠4小時(shí)內(nèi)線上響應(yīng)， 48小時(shí)內(nèi)到達(dá)現(xiàn)場(chǎng)。
3、利用現(xiàn)代信息技術(shù)，我們?yōu)槊恳晃豢蛻籼峁┗ヂ?lián)網(wǎng)在線支持，遠(yuǎn)程快速診斷及排除故障，大大縮短儀器停機(jī)時(shí)間，提高客戶的工作效率。對(duì)路途遠(yuǎn)及初期客戶對(duì)儀器不熟悉是一個(gè)特別有力的支持。
4、不斷完善的服務(wù)體系。每一次服務(wù)都能做到規(guī)范化，可跟蹤及持續(xù)性，符合各行業(yè)的法規(guī)要求。
5、專業(yè)的服務(wù)團(tuán)隊(duì)，工程師均是原廠工程師或經(jīng)原廠工程師專業(yè)培訓(xùn)過(guò)的，通過(guò)考核后方可上崗為客戶提供服務(wù)。