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詳細介紹
ISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。
菲希爾X射線測厚儀XDL 比例接收器能實現(xiàn)計數(shù)率
由于采用了FISCHER基本參數(shù)法，因此無論是對鍍層系統(tǒng)還是對固體和液體樣品，儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。
| 通用規(guī)格 | |
| 設計用途 | 能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀（EDXPF），用于測定鍍層和溶液分析。 |
| 元素范圍 | 從元素氯（17）到鈾（92） |
| 配有可選的WinFTM®BASIC軟件時，可同時測定24種元素 | |
| 設計理念 | 臺式儀器，測量門向上開啟 |
| 測量方向 | 由上往下 |
| X射線源 | |
| X射線管 | 帶鈹窗口的鎢管 |
| 高壓 | 三檔：30KV，40KV，50KV |
| 孔徑（準直器） | φ0.3mm 可選：φ0.1mm；φ0.2mm；長方形0.3mm x 0.05mm |
| 測量點尺寸 | 取決于測量距離及使用的準直器大小 |
| 實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的一致 | |
| 小的測量點大小約φ0.2mm | |
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