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詳細摘要：動態(tài)圖像法粒度分析儀是一種基于計算機視覺技術(shù)的顆粒分析儀器，可用于測量顆粒的尺寸、形狀、數(shù)量等參數(shù)。這種分析儀的工作原理是利用高速攝像技術(shù)捕捉顆粒在液體或氣體中的運動軌跡，并通過精確的數(shù)據(jù)分析得出顆粒的大小、形狀、速度、方向等重要信息。 產(chǎn)品型號：所在地：歐洲 比利時 參考價：面議
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詳細摘要：液體介電常數(shù)測定儀是一種用于測量液體介電常數(shù)的儀器，通常用于科研、工業(yè)生產(chǎn)和質(zhì)量控制等領(lǐng)域。介電常數(shù)是一個描述電介質(zhì)材料存儲電能能力的物理量，對于液體介電常數(shù)的測量，有助于了解液體的電學(xué)性質(zhì)、分子結(jié)構(gòu)等信息。 產(chǎn)品型號：RUFUTO-871所在地：日本 參考價：面議
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詳細摘要：顆粒球形度分析儀是一種用于測量顆粒物料的球形度的儀器。它以光學(xué)原理為基礎(chǔ)，通過將樣品中的顆粒投射在一個光學(xué)系統(tǒng)中進行圖像采集，并根據(jù)采集到的圖像數(shù)據(jù)來計算顆粒的球形度。 歐奇奧500 nanoXY集成了真空分散裝置及高分辨聚焦裝置（1000萬像素相機 + 特殊LED光源）;藍光光源可以 產(chǎn)品型號：500 nanoXY所在地：比利時 參考價：面議
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詳細摘要：法國Cordouan 生產(chǎn)的Vasco kin在線納米粒度儀用于復(fù)雜介質(zhì)中納米顆粒的粒度表征，其性能遠優(yōu)于目前市面上流行的動態(tài)光散射法納米粒度儀。經(jīng)過短短四年的發(fā)展，Cordouan Technologies 構(gòu)建的表征納米和納米材料的創(chuàng)新解決方案已經(jīng)成為 N3 世界（納米顆粒、納米材料、納米技術(shù)）的參考標(biāo)準(zhǔn)，用于粒度測定 產(chǎn)品型號：VASCO KIN所在地：法國 參考價：面議
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詳細摘要：歐奇奧 SCAN700型粒度粒形分析儀粒徑形貌分析儀將圖像這一直觀的觀察測量方法與統(tǒng)計學(xué)相結(jié)合的圖像法顆粒粒度粒形表征不僅能夠得到個別顆粒的直觀信息，還能夠得到 樣品的粒徑和形貌的統(tǒng)計信息，從而幫助使用者*地表征樣品 產(chǎn)品型號：歐奇奧 SCAN700型所在地：比利時 參考價：面議
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詳細摘要：歐奇奧SCAN600圖像粒度儀將圖像這一直觀的觀察測量方法與統(tǒng)計學(xué)相結(jié)合的圖像法顆粒粒度粒形表征不僅能夠得到個別顆粒的直觀信息，還能夠得到 樣品的粒徑和形貌的統(tǒng)計信息，從而幫助使用者*地表征樣品。 產(chǎn)品型號：歐奇奧SCAN600所在地：比利時 參考價：面議
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詳細摘要：納米粒度及Zeta電位分析儀是用于表征分散型樣品和溶液中納米顆粒以及微米顆粒的儀器。它可通過測量動態(tài)光散射 （DLS）、電泳光散射 （ELS） 和靜態(tài)光散射 （SLS） 來測定顆粒尺寸、zeta電位和分子質(zhì)量。 產(chǎn)品型號：Litesizer 500所在地：奧地利 參考價：面議
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詳細摘要：膠體Zeta電位分析儀，英文名：colloid Zeta potential analyzer，基于電聲法的測試原理，主要應(yīng)用原濃分散體系中Zeta電位測定，包括CMP漿料，納米分散體系、陶瓷漿料，電池漿料，水泥漿料，催化劑交流，化妝品、藥物乳劑等 產(chǎn)品型號：DT-300所在地：美國 參考價：面議
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詳細摘要：光散射納米粒度儀THETIS™將三種測量類型組合到了一臺精致的小型儀器中，包括動態(tài)光散射（DLS，粒度）、去偏振動態(tài)光散射 （DDLS，粒形），具有連續(xù)多角度功能的靜態(tài)光散射（SLS，構(gòu)象）THETIS™繼承 Vasco Kin™ 的特點，集成了其特別的時間 分辨技術(shù)，用于高分辨率實時測量。 產(chǎn)品型號：所在地： 參考價：面議
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詳細摘要：919Z型Zeta電位儀基于多普勒電泳光散射原理的Zeta電位分析系統(tǒng)，適用于納米材料，Zeta電位是表征分散體系穩(wěn)定性的重要指標(biāo)zeta電位愈高，顆粒間的相互排斥力越大，膠體體系愈穩(wěn)定，因此通過電泳光散射法測量zeta電位可以預(yù)測膠體的穩(wěn)定性。包括礦漿，乳液，懸浮液，蛋白質(zhì)等各種樣品的Zeta電位的測量，符合ISO-13099.2標(biāo)準(zhǔn) 產(chǎn)品型號：所在地：山東 參考價：面議
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詳細摘要：919S型國產(chǎn)納米粒度儀采用經(jīng)典90°動態(tài)光散射技術(shù)，粒徑范圍：0.3nm-15μm；高速數(shù)字相關(guān)器，最小采樣時間25ns，動態(tài)范圍大于1011；擁集成光纖技術(shù)的高靈敏度APD 或 PMT 探測單元；配置532nm 50mW大功率固體激光器，能量輸出自動調(diào)節(jié)；干燥氣體吹掃技術(shù)實現(xiàn)冷凝控制，溫控范圍：0℃-90℃，精度±0.1℃。 產(chǎn)品型號：所在地：山東 參考價：面議
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詳細摘要：儀思奇919SZ納米粒度及Zeta電位分析儀是新一代納米粒度Zeta電位分析系統(tǒng)，廣泛應(yīng)用于有機及無機顆粒、乳液、高分子聚合物、表面活性劑、膠素、病毒抗體、蛋白質(zhì)等樣品的顆粒表征。919SZ可同時測量顆粒粒度分布，還可以測量膠體的Zeta電位。是表征納米分散體系的利器。 產(chǎn)品型號：所在地：山東 參考價：面議
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詳細摘要：iChem 700 全自動化學(xué)吸附分析儀可進行 TPD、TPR、TPO、 TPRx、脈沖化學(xué)吸附、催化劑處理、脈沖校準(zhǔn)和動態(tài) BET 比表面分析等測試，為催化劑材料的酸堿度、酸堿分布、活性金屬分散度、金屬與載體的相互作用等研究方向提供精準(zhǔn)的測試數(shù)據(jù)， iChem 700 可配置在線色譜儀，連續(xù)對 TPRx 產(chǎn)物進行定性和定 量監(jiān)測，并對脫附氣體的濃度進行檢測 產(chǎn)品型號：所在地：北京 參考價：面議
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詳細摘要：ipore600型比表面及孔徑分析儀按照歐洲標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計制造，符合ISO15901及GB/T 19587-2017 標(biāo)準(zhǔn)，可對沸石分子篩、碳材料、金屬氧化物、MOF、COF、石墨烯等多孔材料進行比表面積、孔徑分布和總孔體積等分析。 iPore 600可廣泛應(yīng)用于電池材料、金屬粉末、固體藥物制劑（原料藥API及其輔料）等超低比表面樣品的質(zhì)量控制和研發(fā)。 產(chǎn)品型號：所在地： 參考價：面議
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詳細摘要：iPore400型超低比表面與孔徑分析儀按照歐洲標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計制造，符合ISO15901及GB/T 19587-2017 標(biāo)準(zhǔn)，可對沸石分子篩、碳材料、金屬氧化物、MOF、COF、石墨烯等多孔材料進行比表面積、孔徑分布和總孔體積等分析。 iPore 400可廣泛應(yīng)用于電池材料、金屬粉末、固體藥物制劑（原料藥API及其輔料）等超低比表面樣品的質(zhì)量控制和研發(fā)。 產(chǎn)品型號：所在地：北京 參考價：面議
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詳細摘要：液體介電常數(shù)測量儀從純水到非極性有機溶劑的介電常數(shù)測定，操作極其簡單，只要將電極插入液體，并調(diào)節(jié)前面板上的兩個控制鈕， 即可讀出所顯示的介電常數(shù)值. 產(chǎn)品型號：871所在地：日本 參考價：面議
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詳細摘要：高分辨率納米粒度和Zeta電位分析儀是基于動態(tài)光散射（DLS）和激光多普勒電泳（LDE）技術(shù)，提供高分辨率，和快速的粒度和zeta電位測試和遠程原位測試。 產(chǎn)品型號：Amerigo所在地：法國 參考價：面議
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詳細摘要：碳黑粒子表面特征分析儀是一款評價粒子界面的裝置，是一款設(shè)計的新產(chǎn)品，可以對懸浮液狀，乳液中小至納米尺寸的顆粒的分散性的測試及對顆粒在濕式狀態(tài)的比表面積測量。 產(chǎn)品型號：Acorn Area所在地：美國 參考價：面議
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詳細摘要：核磁共振顆粒表面特性分析儀可用于測量乳液或泡沫液滴的大小和分布情況，其測量范圍廣泛（10nm~100μm），相比于傳統(tǒng)的粒度測定技術(shù)如激光衍射需要 稀釋乳液才能測量液滴的大小，不需要任何的稀釋。尤其對于量高濃度，高粘度，不透明，光敏乳劑，以及一些特殊納米或或微乳液（由于其特殊組成不能稀釋），Acorn Drop都可以提供高效的解決方案。 產(chǎn)品型號：Acorn Drop所在地：美國 參考價：面議
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詳細摘要：乳劑比表面分析儀用于測量乳液或泡沫液滴的大小和分布情況，其測量范圍廣泛（10nm~100μm），相比于傳統(tǒng)的粒度測定技術(shù)如激光衍射需要 稀釋乳液才能測量液滴的大小，Acorn Drop不需要任何的稀釋。尤其對于量高濃度，高粘度，不透明，光敏乳劑，以及一些特殊納米或或微乳液（由于其特殊組成不能稀釋），Acorn Drop都可以提供高效的解決方案。 產(chǎn)品型號：Acorn Drop所在地：美國 參考價：面議
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儀思奇（北京）科技發(fā)展有限公司主營產(chǎn)品：潤濕比表面分析儀-動態(tài)圖像法粒度分析儀-粒子分散穩(wěn)定性分析儀
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