詳細(xì)介紹
DP/GM-II多功能電阻率自動(dòng)測(cè)定儀/多功能電阻率測(cè)定儀
用途
1.主要用于測(cè)量炭制品和石墨制品以及其它導(dǎo)電棒狀材料在實(shí)驗(yàn)室常溫下的電阻率,包括DP/GM-I型粉體材料電阻率自動(dòng)測(cè)定儀可測(cè)的所有粉體材料。
2.儀器及其特點(diǎn)
本儀器是在DP/GM-I型粉體材料電阻率自動(dòng)測(cè)定儀的基礎(chǔ)上增加了一個(gè)提供5A電流的副機(jī),及測(cè)量棒狀材料所需的兩電極和電位探測(cè)器,它包括DP/GM-I型粉體材料電阻率自動(dòng)測(cè)定儀的所有功能和用途。
DP/GM-II多功能電阻率自動(dòng)測(cè)定儀/多功能電阻率測(cè)定儀
3.主要性能指標(biāo)
電流 5A(500mA)
測(cè)量電壓 0-5mV
分辯率 0.1µΩm
電源 220V±10% 50HZ
功率消耗 <100W
電位探測(cè)器 20-60mm 可調(diào)
測(cè)量試樣直徑 10mm,20mm,45mm
試樣長(zhǎng)度 120mm,160mm,45mm,100mm
外形尺寸
主機(jī) 440×420×159,重量:8Kg
副機(jī) 440×420×159,重量:8Kg
測(cè)試支架 200×200×800,重量:15Kg
4.安裝
主機(jī)接線與HA5/GM-I型相同。副機(jī)接線:電源插頭接電源插座,連機(jī)線的兩端插頭分別接到主、副機(jī)的連機(jī)插座(注意定位糟位置)。將兩電極(銅片)的接頭接A+、A-和電位探測(cè)器的接頭(小測(cè)試架)接V+、V-。
5.電位探測(cè)器之間的距離(L)值和試樣截面積(S)值輸入法
若以炭、石墨棒為例,試樣大小按GB3074.1-82,測(cè)試方法參照國(guó)標(biāo)GB6717-86。根據(jù)這兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)和鋁用炭素材料電阻率測(cè)量行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的要求,測(cè)試樣的長(zhǎng)度不同,截面積不同,所以在測(cè)試時(shí),要輸入電位探測(cè)器之間的不同距離(L)值和被測(cè)試樣不同的截面積(S)值。
其輸入法為:
5.1輸入電位探測(cè)器的距離L值:按(H.D)鍵,數(shù)顯“0”,直接從鍵盤(pán)輸入L值(以mm為單位)。
5.2輸入截面積(S)值:依次按N鍵,輸入9999,按p鍵,按S鍵,輸入試樣截面積(以mm為單位)。
6.固體棒狀材料電阻率測(cè)量步驟
首先打開(kāi)主機(jī)的電源開(kāi)關(guān),當(dāng)打印機(jī)打印出“測(cè)量粉末”后再打開(kāi)副機(jī)的電源開(kāi)關(guān),打印機(jī)即打印出“測(cè)量炭棒”,這時(shí)儀器即進(jìn)入棒狀材料的測(cè)試狀態(tài)。
把欲測(cè)試樣置于正、負(fù)兩電極之間,將其放到測(cè)量支架的傳感器頂蓋上,旋轉(zhuǎn)加壓螺拴夾緊(約600N力)。輸入電位探測(cè)器之間的距離L值;依次按N鍵輸入9999,按P鍵,按S鍵輸入所測(cè)試樣的截面積。按p鍵,此時(shí)數(shù)顯出現(xiàn)p和E交替地變換,將小支架的電位探測(cè)器的兩端子(即V+和V-的電壓)接觸被測(cè)試樣,(見(jiàn)附圖3,注意電流和電壓方向要*),數(shù)顯p不再跳動(dòng),此p值即為被測(cè)試樣的電阻率值。參照附圖2,按鍵盤(pán)相應(yīng)的鍵,即可顯示或打印出相應(yīng)的測(cè)量結(jié)果。若試樣為圓柱炭棒,可將電位探測(cè)器沿炭棒軸每間隔120º取一p值,每測(cè)一次按存貯鍵(store)一次,按后出現(xiàn)“F”,再脫離接觸,否則存貯數(shù)值發(fā)生變化。將其存貯后,取三組讀數(shù),zui后按存貯打印鍵(STy),該試樣電阻率p的三次測(cè)試值和三次測(cè)試的平均值,勿需計(jì)算,均可打印出來(lái)。