美國(guó)賽普司Sciaps手持式含碳量分析儀

美國(guó)賽普司Sciaps手持式含碳量分析儀簡(jiǎn)介

SciAps Inc （賽普司）始于1998年，總部位于美國(guó)波士頓，是專注于便攜式元素分析光譜研發(fā)，是核查組織認(rèn)可 的技術(shù)，經(jīng)過(guò)二十年的積累，已成為從事全產(chǎn)品線手持光譜分析設(shè)備的研究機(jī)構(gòu)。

由元素分析的科學(xué)家Dr.Don Sackett博士帶領(lǐng)和匯聚行業(yè)科學(xué)人才，組建的X射線熒光光譜、激光光譜、拉曼光譜等多種光譜技術(shù)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)，先后成功地完成了便攜式XRF、 LIBS、 Raman分析儀等技術(shù)的開(kāi)發(fā)。

XRF技術(shù)前四代系列分析儀的成功應(yīng)用深得用戶的好評(píng)。在合金識(shí)別，礦物探礦和冶煉，考古，有害元素分析，刑事偵察，禁毒，制藥，土壤重金屬，環(huán)境修復(fù)，食品，安全，材料分析科研院所，大學(xué)機(jī)構(gòu)等多行業(yè)多領(lǐng)域占有大部分的*。特別是XRF、LIBS、Roman分析技術(shù)得到了美國(guó)宇航局、歐盟海關(guān)、禁毒等應(yīng)用，彰顯了Dr.Don Sackett 博士團(tuán)隊(duì)的技術(shù)。

美國(guó)SciAps Inc在便攜式光譜領(lǐng)域占據(jù)地位，創(chuàng)造了價(jià)值，目前在能成功發(fā)布的第五代便攜式XRF  X系列分析儀，小型，輕便，重復(fù)性高，速度快（2秒），以其操作簡(jiǎn)單，快速識(shí)別，等優(yōu)點(diǎn)迅速得到客戶認(rèn)可，并經(jīng)過(guò)多品牌性能評(píng)估多層篩選比較，成功入圍美國(guó)各大石油公司及其檢測(cè)單位采購(gòu)名錄。

Z  200 C+是能夠分析碳素鋼和不銹鋼中碳含量的手持式分析儀

功率激光源分光儀，氬氣凈化技術(shù)使得手持式的Z 200 C+能得到OES 水平的分析結(jié)果，從鋁合金中的痕量元素Be、Li、B,至常規(guī)的元素Si、 Mg、Mn、Fe、Cu等等都能分析出來(lái)。

美國(guó)賽普司Sciaps手持式含碳量分析儀應(yīng)用領(lǐng)域

常規(guī)合及成份分析

•應(yīng)用于管材、閥門、焊縫、壓力容器及其配件PMI檢測(cè)

天然氣管道及其部件的合規(guī)檢測(cè)（PMI）

•符合美國(guó)石油學(xué)會(huì)（API）的推薦規(guī)程（RP）578-用于新型和現(xiàn)有合金管道系統(tǒng)的材料驗(yàn)證程序，被確認(rèn)為金屬材料中的碳含量的定量檢測(cè)設(shè)備。

•快速識(shí)別L和H級(jí)別的不銹鋼，如316和316L,304和304L。

•煉化廠硫化物腐蝕分析，可3秒識(shí)別金屬中低至0.02%的Si。

•流動(dòng)加速腐蝕分析，幾秒識(shí)別金屬中的低至0.03%的Cr。

自動(dòng)計(jì)算金屬的碳含量，快速判斷材料的可焊性

•低合金中碳和合金元素對(duì)合金的焊接線的影響是不同的，碳的影響大，其他合金元素可以折合成碳的影響來(lái)估算被焊接材料的焊接性，換算后的總和和稱為碳當(dāng)量。

•碳當(dāng)量越大，焊接性能就越差，碳當(dāng)量小于0.4%時(shí)，焊接性良好，在0.4~0.6%時(shí)，焊接性差，焊接時(shí)需要預(yù)熱并采取其他措施防止裂紋；大于0.6的話，焊接時(shí)需要高的預(yù)熱溫度和嚴(yán)格的工藝措施了。

快速分揀鋁合金

•常見(jiàn)鋁合金6061、6063和1100、3003、3005、3105在幾秒鐘內(nèi)就可以區(qū)分識(shí)別。其他技術(shù)確認(rèn)一個(gè)牌號(hào)就需要30秒或更多的時(shí)間，有效的區(qū)分這三種合金需要很長(zhǎng)時(shí)間。

•能識(shí)別細(xì)微差異的合金如2014、 2024、 7050、7075

美國(guó)賽普司Sciaps手持式含碳量分析儀其他應(yīng)用

•分析其它手持設(shè)備不能檢測(cè)的金屬（Li、Be、B、 Na）和非金屬元素，例如識(shí)別 鈹銅合金，鋁鈦硼合金，鋰鋁合金。

•因LIBS檢測(cè)斑點(diǎn)很小，為超小超薄材料、鍍層、焊縫成份的檢測(cè)提供了檢測(cè)手段。

•新材料研發(fā)，例如分析陶瓷中的F、C、H、 O、Na。

•大學(xué)校園實(shí)驗(yàn)室及教學(xué)好的原子光譜教學(xué)教具

•實(shí)驗(yàn)室ICP、AAS等前期樣品快速刪查

•各類執(zhí)法檢測(cè)

模式、元素、測(cè)量基體、牌號(hào)

模式Alloy C+的曲線、元素、機(jī)體、牌號(hào)

•不銹鋼C含量檢測(cè)專業(yè)分析曲線：C、Si、Al、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Nb、Mo、Se、W。

•鐵基合金C含量檢測(cè)專業(yè)分析曲線:C、Si、Al、Ti、V、Cr、（不同含量Fe）Co、Ni、Cu、Nb、Mo、W、Pb。

•測(cè)量機(jī)體:包含但不限于碳鋼、低碳鋼、高碳鋼、鋁合金、低合金鋼、不銹鋼、鑄鐵、等項(xiàng)目。

•標(biāo)準(zhǔn)庫(kù)中有標(biāo)準(zhǔn)合金號(hào)高達(dá)500多種，用戶可自定義符合特殊要求的非標(biāo)牌號(hào)可高達(dá)幾百種。

技術(shù)的小氬氣瓶

•Sciaps LIBS使用激光獲得等離子體光譜，采用氬氣凈化功能，能提供化學(xué)分析結(jié)果，很低的檢測(cè)限（0.01~0.1%）可攜帶的小氬氣瓶可提供高達(dá)500次測(cè)試，不用時(shí)，氣瓶出口被密封，沒(méi)有氣體消耗。

•儀器可外接氬氣罐，可通過(guò)連接與出氣軟管匹配的連接閥門便可將氬氣罐中的氬氣接入儀器。

微區(qū)微點(diǎn)測(cè)試

•激光測(cè)試很小，光束只有10um，SCIAPS激發(fā)斑點(diǎn)不大于50um，可以直接分析線路板上的肉眼難以分辨的金手指，也是檢測(cè)焊點(diǎn)，焊縫的有效工具。

•高清攝像頭及成像系統(tǒng)能瞄準(zhǔn)微點(diǎn)，支持材料定點(diǎn)微區(qū)測(cè)試。

安全及低廉的使用成本

•激光等級(jí)為光學(xué)3B級(jí)，安全、沒(méi)有危害。

•沒(méi)有X射線，沒(méi)有電離輻射，不需要向政府申請(qǐng)輻射儀器使用許可證，無(wú)需接受輻射監(jiān)管，無(wú)需向政府提供使用報(bào)告。

•操作安全，支持操作員手拿樣品測(cè)試。

•檢測(cè)窗為藍(lán)寶石，超高強(qiáng)度，能有效避免XRF探測(cè)器因屑，條狀等各類不規(guī)則金屬加工尾料樣品刺破檢測(cè)窗。

•沒(méi)有探測(cè)器，X射線管等昂貴易損件，后續(xù)使用成本極低。

•激光源、分光器為Sciaps自產(chǎn)部件，能提供零件級(jí)別的維護(hù)。

校準(zhǔn)與擴(kuò)展

•校準(zhǔn)檢查內(nèi)部快門也是316不銹鋼的全 自動(dòng)校準(zhǔn)和波長(zhǎng)規(guī)模驗(yàn)證。漂移校正只需要精度的分析。

•Sciaps 測(cè)試模式生成軟件（PB）可建立用戶添加新元素，擴(kuò)大校準(zhǔn)曲線測(cè)試范圍，或添加校準(zhǔn)曲線，用戶所建或是習(xí)慣使用的OES儀器上的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)都可以添加。

•碳當(dāng)量公式和計(jì)算（CE），Mn：C比例及剩余元素總量碳含量校驗(yàn)校準(zhǔn)樣品和譜線漂移校正樣品。

安卓操作平臺(tái)

直觀的數(shù)據(jù)管理，用戶化安卓系統(tǒng)、用戶體驗(yàn)輕松、直觀、簡(jiǎn)單、系統(tǒng)易升級(jí)、有WiFi、藍(lán)牙、USB等數(shù)據(jù)傳輸方式和內(nèi)置GPS，允許檢測(cè)報(bào)告在儀器與手機(jī)、PC之間無(wú)縫連接并共享，能在安卓平臺(tái)運(yùn)行軟件，就可以在SCIAPS的LIBS上運(yùn)行。