高加速應(yīng)力測試（HAST）

1       產(chǎn)品介紹

    高加速應(yīng)力測試（HAST）結(jié)合了高溫、高濕度、高壓和時間，以測量元件的可靠性，無論是否具有電偏置。HAST測試以受控的方式加速了更傳統(tǒng)測試的壓力。它本質(zhì)上是一種腐蝕失效測試。腐蝕型故障加速，在較短的時間內(nèi)發(fā)現(xiàn)包裝密封，材料和接頭等缺陷。

    偏置高加速壓力測試（BHAST）利用與HAST測試相同的變量（高壓，高溫和時間），但增加了電壓偏差。BHAST測試的目標是加速設(shè)備內(nèi)的腐蝕，從而加快測試周期。

HAST加速壓力測試與THB測試類似，因為故障是由相同的機制引起的。由此產(chǎn)生的故障以成比例的速率發(fā)生，并且可以在激活引擎之間找到相關(guān)性。電氣設(shè)備/組件更可靠，因此，數(shù)千小時的THB測試無法在短時間內(nèi)發(fā)現(xiàn)HAST腐蝕故障測試的弱點。

型的HAST測試條件包括110或130°C的溫度，85%RH的濕度和96小時的測試運行時間。一旦高度加速的壓力測試完成，測試的樣品將用防潮袋返回給客戶，并帶有測試時間標簽。HAST測試通常遵循JEDEC規(guī)范JESD22 A110，“高加速溫度和濕度壓力測試（HAST）"。

參考標準

JESD22-A118 （無偏）

JESD22-A110 （偏置）

IEC 60068-2-66

3       性能特點

l  HAST已被開發(fā)用于取代溫度 - 濕度偏差（THB）測試

l  HAST使用110至130 ?C的測試溫度，與THB測試相比，將測試時間縮短至96小時

l  干燥）高溫 130C， 相對濕度 85%， 壓力 33.3 psia

l  （濕）高溫110C，相對濕度35%，壓力17.7標準

4       應(yīng)用領(lǐng)域

l  電子學

l  半導體

l  太陽能

l  藥品

l  空間應(yīng)用

高加速應(yīng)力測試（HAST）