目錄:上海品魁機(jī)電科技有限公司>>美國(guó)TRIO-TECH>>美國(guó)Trio-Tech Hast 加速濕熱測(cè)量系統(tǒng)>> HAST 1000美國(guó)Trio-Tech 半導(dǎo)體高加速壓力測(cè)試系統(tǒng)
參考價(jià) | ¥800000-¥60000000 |
參考價(jià):¥800000 ~ ¥60000000
更新時(shí)間:2024-09-24 15:13:01瀏覽次數(shù):1749評(píng)價(jià)
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,航天,汽車,電氣,綜合 | 測(cè)試箱規(guī)格 | 18*24in |
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外尺寸 | 77*108*190cm | 可用空間 | 50*60*48cm |
重量 | 1586kg | 電源要求 | 220V 50Hz |
溫濕度 | 105-133@100RH | 最大壓力 | 56SI |
均勻度 | 1.5度/5% | 功耗 | 2500W@110度 85%RH |
最大裝載 | 50-60kg |
高加速應(yīng)力測(cè)試(HAST)結(jié)合了高溫、高濕度、高壓和時(shí)間,以測(cè)量元件的可靠性,無(wú)論是否具有電偏置。HAST測(cè)試以受控的方式加速了更傳統(tǒng)測(cè)試的壓力。它本質(zhì)上是一種腐蝕失效測(cè)試。腐蝕型故障加速,在較短的時(shí)間內(nèi)發(fā)現(xiàn)包裝密封,材料和接頭等缺陷。
偏置高加速壓力測(cè)試(BHAST)利用與HAST測(cè)試相同的變量(高壓,高溫和時(shí)間),但增加了電壓偏差。BHAST測(cè)試的目標(biāo)是加速設(shè)備內(nèi)的腐蝕,從而加快測(cè)試周期。
HAST加速壓力測(cè)試與THB測(cè)試類似,因?yàn)楣收鲜怯上嗤臋C(jī)制引起的。由此產(chǎn)生的故障以成比例的速率發(fā)生,并且可以在激活引擎之間找到相關(guān)性。電氣設(shè)備/組件更可靠,因此,數(shù)千小時(shí)的THB測(cè)試無(wú)法在短時(shí)間內(nèi)發(fā)現(xiàn)HAST腐蝕故障測(cè)試的弱點(diǎn)。
型的HAST測(cè)試條件包括110或130°C的溫度,85%RH的濕度和96小時(shí)的測(cè)試運(yùn)行時(shí)間。一旦高度加速的壓力測(cè)試完成,測(cè)試的樣品將用防潮袋返回給客戶,并帶有測(cè)試時(shí)間標(biāo)簽。HAST測(cè)試通常遵循JEDEC規(guī)范JESD22 A110,“高加速溫度和濕度壓力測(cè)試(HAST)"。
JESD22-A118 (無(wú)偏)
JESD22-A110 (偏置)
IEC 60068-2-66
l HAST已被開(kāi)發(fā)用于取代溫度 - 濕度偏差(THB)測(cè)試
l HAST使用110至130 ?C的測(cè)試溫度,與THB測(cè)試相比,將測(cè)試時(shí)間縮短至96小時(shí)
l 干燥)高溫 130C, 相對(duì)濕度 85%, 壓力 33.3 psia
l (濕)高溫110C,相對(duì)濕度35%,壓力17.7標(biāo)準(zhǔn)
l 電子學(xué)
l 半導(dǎo)體
l 太陽(yáng)能
l 藥品
l 空間應(yīng)用
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