Bruker布魯克納米紅外光譜nanoIR3，是一款基于原子力顯微鏡（AFM）的納米表征工具。其采用光熱誘導(dǎo)共振技術(shù)（PTIR，也稱(chēng)AFM-IR），使紅外光譜的空間分辨率突破了光學(xué)衍射極限，提高至10納米級(jí)別。為揭示納米尺度下的表界面紅外光譜信息提供了可能。該技術(shù)曾榮獲2010年度美國(guó)R&D100大獎(jiǎng)。

光熱誘導(dǎo)技術(shù)實(shí)現(xiàn)10nm超高化學(xué)分辨率和高信噪比納米紅外光譜

高性能納米級(jí) FTIR 光譜

只有 nanoIR3-s 能夠提供：

• 高性能納米級(jí) FTIR 光譜

• 高性能紅外近場(chǎng)光譜，采用目前*進(jìn)的納米紅外激光源

• 納米級(jí) FTIR 光譜，采用集成式DFG，可與寬帶同步輻射光源集成

• 適用于光譜和化學(xué)成像的多芯片 QCL 激光源

點(diǎn)光譜技術(shù)

POINTspectra 激光器可執(zhí)行多個(gè)波長(zhǎng)的光譜分析和高分辨光學(xué)成像。nanoIR3-s讓測(cè)試更加簡(jiǎn)單：

·在 AFM 圖像中選擇要測(cè)量的特征

·測(cè)量樣品的波譜，選擇感興趣的波長(zhǎng)

·采集高分辨光學(xué)屬性圖

根據(jù)對(duì)多個(gè)波長(zhǎng)的干涉圖的快速測(cè)量，獲得空間分辨率達(dá)到 10nm 的振幅和相位圖像     實(shí)現(xiàn) 10nm 分辨率Tapping AFM-IR，用于互補(bǔ)性紅外光譜分析。