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FS-PAR作物冠層分析儀
  • FS-PAR作物冠層分析儀
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貨物所在地:河北石家莊市

地: 石家莊

更新時間:2024-10-22 08:37:10

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FS-PAR作物冠層分析儀可廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)生產(chǎn)和農(nóng)業(yè)科研,為進行冠層光能資源調(diào)查,測量植物冠層中光線的攔截,研究作物的生長發(fā)育、產(chǎn)量品質(zhì)與光能利用間的關(guān)系,本儀器用于400nm-700nm波段內(nèi)的光合有效輻射(PAR)測量、記錄,測量值的單位是平方米?秒上的微摩爾(μmols㎡/秒)。由于作物冠層測量儀主要測量作物葉片對光線的攔截,所以該儀器適用于比較低矮的作物。

FS-PAR作物冠層分析儀 

儀器功能:
作物葉面積指數(shù)是描述作物冠層結(jié)構(gòu)的一個重要參數(shù),作物冠層直接影響著作物光合作用、蒸騰等關(guān)鍵生理過程,葉面積指數(shù)是許多作物生長模型、長勢評價模型、作物估產(chǎn)模型的重要參數(shù)。所以測量作物冠層具有重要的意義。
FS-PAR作物冠層分析儀可廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)生產(chǎn)和農(nóng)業(yè)科研,為進行冠層光能資源調(diào)查,測量植物冠層中光線的攔截,研究作物的生長發(fā)育、產(chǎn)量品質(zhì)與光能利用間的關(guān)系,本儀器用于400nm-700nm波段內(nèi)的光合有效輻射(PAR)測量、記錄,測量值的單位是平方米·秒上的微摩爾(μmols㎡/秒)。由于作物冠層測量儀主要測量作物葉片對光線的攔截,所以該儀器適用于比較低矮的作物,樹木等其他較高的植物,推薦使用FS-2000植物冠層圖像分析儀。
儀器特點:
植物冠層測量儀為一體化設(shè)計,包括液晶顯示屏、操作按鍵、存儲SD卡及測量探桿等。儀器菜單操作簡單,體積小,攜帶方便。存儲介質(zhì)為市場上通用的SD卡,存儲容量大,數(shù)據(jù)管理方便!在功耗上有合理的電源管理方案,測試過程中儀器根據(jù)實際情況自動進入待機狀態(tài),需要時按喚醒鍵即可喚醒屏幕,觀察實際數(shù)據(jù)。測量方式分為自動和手動兩種。自動測量時間間隔zui小1分鐘,自動測量次數(shù)zui大99次,手動測量根據(jù)實際需要手動采集即可。
技術(shù)參數(shù)
測量范圍:0-3000μmol ㎡/秒
分辨率:1μmol ㎡/秒
響應(yīng)時間:10μs
自動采集間隔:1-99分鐘
自動采集次數(shù):1-99次
數(shù)據(jù)存儲容量:2GB(標配SD卡) 
儀器總長度:75 cm
探桿長度:50 cm
傳感器數(shù)量:25個(標配)
電源:2節(jié)5號電池
工作環(huán)境:0°C-60°C;*相對濕度

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