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LAM泛勝玉米葉面積測定儀

LAM泛勝玉米葉面積測定儀可測量葉片的多種參數(shù)：葉面積、平均葉面積、葉長、葉寬。廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)、氣象、林業(yè)等部門。
功能特點(diǎn)
1）主機(jī)、探頭一體化設(shè)計，更方便操作。
2）采用微電腦技術(shù)，LCD大液晶顯示。
3）高性能充電鋰電池，無需外部供電，低電壓顯示，更適用于野外測量。
4）一次性可測量較大葉片面積（1000*155mm2）
5）可存儲10000組數(shù)據(jù)（葉面積、葉長、葉寬）。
6）可測量葉片的多種參數(shù)：葉面積、平均葉面積、葉長、葉寬。
7）通訊接口：RSR232接口，可將數(shù)據(jù)導(dǎo)入計算機(jī)。（此功能只限B和G型）
8）GPS定位：集成高速GPS定位模塊，上傳數(shù)據(jù)都自帶時間、經(jīng)緯度信息，方便更有效的處理數(shù)據(jù)。（此功能只限G型）
型號區(qū)別：

技術(shù)參數(shù)：
（1）面積單位：cm2      
（2）分辨率：0.01cm2
（3）測量誤差：<5%      
（4）寬度量程：0～150mm 
（5）長度量程：0～1000mm
（6）數(shù)據(jù)記錄：10000組