LBT涂層測(cè)厚儀主要用途：
本儀器采用了磁性和渦流測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度 。
 
技術(shù)參數(shù)：
測(cè)量范圍0-1250mm
測(cè)量精度±3%H±1.5ｕm
顯示精度0~99.99ｕm:0.1ｕm 100ｕm以上：1ｕm
Z小基體10X10mm
Z小曲率凸：5mm   凹：25mm
Z薄基體0.5mm

LBT涂層測(cè)厚儀主要用途：

本儀器采用了磁性和渦流測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度 。

 

LBT涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)：

測(cè)量范圍	0-1250mm
測(cè)量精度	±3%H±1.5ｕm
顯示精度	0~99.99ｕm:0.1ｕm 100ｕm以上：1ｕm
zui小基體	10X10mm
zui小曲率	凸：5mm   凹：25mm
zui薄基體	0.5mm
環(huán)境溫度	0℃~40℃相對(duì)濕度：不過(guò)85%
電源	DC9VX1

 

圖片展示

 

涂層測(cè)厚儀主要用途：

本儀器采用了磁性和渦流測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度 。

涂層測(cè)厚儀主要用途：

本儀器采用了磁性和渦流測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度 。

 

涂層測(cè)厚儀主要用途：

本儀器采用了磁性和渦流測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度 。

 

涂層測(cè)厚儀主要用途：

本儀器采用了磁性和渦流測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度 。

 

涂層測(cè)厚儀主要用途：

本儀器采用了磁性和渦流測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度 。