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FMD6133橢圓偏振測厚儀產品介紹：
FMD6133手動橢圓偏振測厚儀使用消光法測量薄膜厚度和折射率；手動調節(jié)測試過程中的起偏和檢偏角度。橢圓偏振法地應用于固體基片上介質薄膜的測量。在己有測定薄膜厚度的方法中，它是能測量到zui薄和精度zui高的一類。
FMD6133橢圓偏振測厚儀實驗項目：
1.了解并熟悉儀器的工作原理和性能
2.掌握如何利用設備測試樣品的方法
指標：
偏振器方位角讀數范圍：0°-180°
測量范圍：1nm-300nm
測量值：≤1nm
入射角：30°-90°；誤差：≤0.1°
度盤刻度：每格2度
游標格值：0.05°
光學中心高度：152mm
工作臺直徑：Φ70mm
外形尺寸：730mm*230mm*290mm
產品重量：20kg；
產品介紹：
FMD6133手動橢圓偏振測厚儀使用消光法測量薄膜厚度和折射率；手動調節(jié)測試過程中的起偏和檢偏角度。橢圓偏振法地應用于固體基片上介質薄膜的測量。在己有測定薄膜厚度的方法中，它是能測量到zui薄和精度zui高的一類。
實驗項目：
1.了解并熟悉儀器的工作原理和性能
2.掌握如何利用設備測試樣品的方法
指標：
偏振器方位角讀數范圍：0°-180°
測量范圍：1nm-300nm
測量值：≤1nm
入射角：30°-90°；誤差：≤0.1°
度盤刻度：每格2度
游標格值：0.05°
光學中心高度：152mm
工作臺直徑：Φ70mm
外形尺寸：730mm*230mm*290mm
產品重量：20kg；
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