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X射線鍍層測厚儀?M1 ORA是適用于珠寶行業(yè)的臺式X射線鍍層測厚儀，結構緊湊、占用空間小。M1 ORA能準確測定珠寶類合金的元素組成，分析元素范圍：原子序數(shù)2...
材料可靠性鑒別（PMI）在精煉或其它要求在高溫高壓下作業(yè)的行業(yè)中，工作人員需要對合金材料是否合格以及用料規(guī)范進行常規(guī)嚴格檢測。據(jù)統(tǒng)計，一些精煉廠事故是由金屬材料...
原子力顯微鏡探針(AFM探針)一種具有原子分辨率的表面形貌、電磁性能分析的重要儀器。在表面科學、納米技術領域、生物電子等領域，逐漸發(fā)展成為重要的、多功能材的材料...
鍍層測厚儀M1 MISTRAL是采用X射線熒光技術的光譜儀，可對大件樣品和鍍層樣品進行準確的分析。分析的元素范圍：原子序數(shù)22號（鈦）-92號（鈾）中的元素。分...
手持式廢舊金屬分析儀手持式熒光光譜儀就是好的手持式廢舊金屬分析儀器，是質量控制（QA/QC）、材料分析（PMI）、土壤環(huán)境檢測，礦石分析、混料識別、廢料分揀（R...
光學輪廓儀ContourGT-XContourGT-X布魯克光學輪廓儀是白光干涉儀，可用于眼科鏡片、醫(yī)療器械、高亮度LED、半導體器件、TSV、太陽能電池片、汽...
手持式礦石分析儀布魯克手持式礦石分析儀是Bruker公司的手持式XRF礦石分析儀，對礦石中含有的元素及其含量分析的儀器。無需真空盒氦氣保護。
手持式rohs分析儀S1TITAN600與800號可對無鉛產品進行檢測，也可檢測RoHS合規(guī)性，以及玩具和消費產品中的重金屬。且對鉛（Pb）、汞（Hg）、鉻（C...
水質重金屬分析儀全反射X射線熒光法。用這種方法檢測，不需要復雜的前處理步驟，其次檢測速度快，精度高，可達0.1PPb，而且儀器體積小，可以直接帶到現(xiàn)場去檢測，是...
三維光學輪廓儀表面輪廓儀用于加工的表面，薄膜，半導體，眼科，醫(yī)療設備，MEMS和摩擦學等領域的測量分析。融合了表征、可定制選
臺階儀-表面輪廓儀德國布魯克DektakXT臺階儀（探針式表面輪廓儀）可以提供更高的重復性和分辨率，測量重復性可以到5Å。臺階儀這項性能的到了過去四十...
探針式輪廓儀Dektak XTL探針式輪廓儀是一種用于化學、材料科學、電子與通信技術、化學工程領域的分析儀器。分析樣品表面大尺寸三維形貌，探測樣品厚度。
手持式合金分析儀質量控制(QA/QC),材料分析（PMI）,混料識別,廢料分揀(Recycling),牌號識別(Grade ID)等領域檢測設備。
微區(qū)X射線熒光成像光譜儀PLUSM4 TORNADO微區(qū)X射線熒光成像光譜儀PLUS是能夠檢測出C（6）-Am（95）間元素的微區(qū)X射線熒光成像光譜儀。
便攜臺式xrf分析儀便攜式XRF分析儀適用于在實驗室內外檢測固體,粉末和液體.雖然手持式XRF輕便靈活,適合進行現(xiàn)場檢測,但是,當需要對樣品
TXRF全反射X射線熒光光譜儀S2 PICOFOXTXRF全反射X射線熒光光譜儀可對固體、粉末、液體、懸浮物、過濾物、大氣飄塵、薄膜樣品等進行定性、定量分析，元...
微區(qū)X射線熒光光譜儀M4 TORNADO微區(qū)X射線熒光光譜分析技術是對不均勻樣品、不規(guī)則樣品、甚至小件樣品和包裹物進行高靈敏度的、非破壞性的元素分析方法。
科研手持XRF光譜儀TRACER 5gTRACER 5g科研手持XRF光譜儀采用了一個帶有1μm石墨烯窗口的新探測器，石墨烯窗口取代了傳統(tǒng)的8μm鈹窗口。
手持式X熒光光譜儀重量輕(1.23kg,測量范圍Mg-U)是基于X射線管技術的手持式XRF分析儀.采用了布魯克公司的，適用于各種樣品材料—包括各種合金、不同的采...
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