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當(dāng)前位置：上海富瞻環(huán)?？萍加邢薰?/a>>>分析儀器>>色譜、質(zhì)譜、光譜、波譜>> ReactIR 45P HL 工業(yè) 在線FTIR光譜儀
| 參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號
品 牌Mettler Toledo/梅特勒托利多
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地上海市
更新時(shí)間：2024-10-08 14:06:58瀏覽次數(shù)：207次
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賽默飛LCQ Fleet 離子阱液質(zhì)聯(lián)用儀
| 價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 儀器類型 | 在線型 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 傅立葉變換型（FT) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
ReactIR™和ReactRaman™是原位光譜儀，可使實(shí)時(shí)測量反應(yīng)趨勢與特性曲線，提供關(guān)于動(dòng)力學(xué)、機(jī)理、途徑、多晶體轉(zhuǎn)換以及反應(yīng)變量對于過程性能影響的高度具體化的信息，讓科研人員能夠監(jiān)控反應(yīng)進(jìn)度。當(dāng)科研人員研究、開發(fā)與優(yōu)化化合物、合成途徑，以及化學(xué)和結(jié)晶過程時(shí)，ReactIR和ReactRaman可為其提供重要信息。
通過ReactIR™ FTIR光譜儀，科研人員可以實(shí)時(shí)原位測量反應(yīng)趨勢與特性曲線，提供關(guān)于動(dòng)力學(xué)、機(jī)理、途徑以及反應(yīng)變化因素對于性能影響的高度具體化的信息。
在反應(yīng)過程中，利用ReactIR直接跟蹤反應(yīng)物、試劑、中間體、產(chǎn)物與副產(chǎn)物發(fā)生的變化。當(dāng)科研人員研究、開發(fā)與優(yōu)化化合物、合成途徑與化學(xué)過程時(shí)，ReactIR可提供重要信息。
將化學(xué)過程從實(shí)驗(yàn)室轉(zhuǎn)移到制造過程可能很困難。 原位過程 FTIR（傅里葉變換紅外光譜）與 ReactIR 45P HL 提供深入的反應(yīng)理解，識(shí)別過程干擾并確定反應(yīng)的起始、進(jìn)展和終點(diǎn)。 ReactIR 45P HL 使過程能夠成功地從實(shí)驗(yàn)室轉(zhuǎn)移到中試工廠和生產(chǎn)，同時(shí)滿足危險(xiǎn)或分類區(qū)域中使用的電氣設(shè)備的嚴(yán)格安全要求。 通過實(shí)時(shí)跟蹤關(guān)鍵參數(shù)，工藝設(shè)計(jì)和質(zhì)量得到改進(jìn)，連續(xù)工藝中的變化以及批次故障得以消除。
采樣技術(shù)適用于幾乎所有的化學(xué)反應(yīng)和反應(yīng)——并且適用于任何工藝條件。 這些探針和傳感器適用于研究氫化、格氏反應(yīng)、鹵化和酰氯反應(yīng)以及許多其他化學(xué)反應(yīng)。
*ReactIR 45P Process FTIR 還提供通用 (GP) 配置，適用于電氣設(shè)備不需要區(qū)域分類或危險(xiǎn)安全合規(guī)性的現(xiàn)場環(huán)境。
| 適用于 | 實(shí)驗(yàn)室、中試或生產(chǎn) |
| 軟件 | iC IR iC Process |
| 檢測器 | DTGS SE MCT |
| 光譜范圍（主機(jī)） | 4000 – 650 cm-1 |
| 吹掃要求 | 適用 |
| 外形尺寸 (高x寬x深) | 774 mm x 457 mm x 310 mm |
| 重量 | 45 kg |
| 通信 | LC 端接以太網(wǎng) TCP/IP， 雙工光纖 |
| 分辨率 | 4 cm -1 最大 |
| 環(huán)境溫度 | 0 °C – 35 °C |
| 探頭光學(xué)窗口 | 4000 - 650 cm-1 (Sentinel探頭) 最大 2500 - 650 cm-1（光纖探頭） |
| 液接材料 | 黃金 金剛石或硅 C22合金 |
| 探頭壓力（最大值） | 69bar（6.3 & 9.5mm光纖探頭） 107bar (Sentinel探頭) |
| 探頭溫度（最大值） | 180°C（光纖探頭） 200 °C (Sentinel探頭) |
| 安全認(rèn)證 | NFPA 496， I 類， 1區(qū)， B 組， T4 區(qū)域分類 – 危險(xiǎn)，MET 標(biāo)記 E112462, UL61010-1 & CSA C22.2 No. 61010-1 ATEX 認(rèn)證- TRAC12ATEX0001X， 設(shè)備標(biāo)記 - Ex d op pr px [ia IIC] IIB+H2 T4 Gb |
| 探頭PH范圍 | 1 – 9（硅） 1 – 14（金剛石） |
| 防護(hù)等級 | IP54 |
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