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當前位置：上海富瞻環(huán)保科技有限公司>>分析儀器>>粒度儀粉體設備>> TRISTAR II PLUS 比表面積與孔隙度分析儀
| 產地類別 | 國產 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 儀器原理 | 動態(tài)/靜態(tài)法 | 儀器種類 | 比表面及孔徑分析儀 |
| 應用領域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產業(yè),鋼鐵/金屬,制藥/生物制藥 |
麥克默瑞提克 TRISTAR II PLUS 比表面積與孔隙度分析儀
快速精確的比表面積測量
TriStar II Plus是一款自動化分析并帶有三個分析站的比表面積和孔隙度分析儀，它能夠有效提高常規(guī)質量控制分析的速度和效率；同時還擁有高精度、高分辨率和數(shù)據(jù)簡化能力，以滿足大多數(shù)研究需求。TriStar II Plus可兼容多種分析方法和數(shù)據(jù)簡化，用戶可優(yōu)化分析特定的應用。
產品介紹：
快速精確的比表面積測量
多通道及多用途分析
優(yōu)點
數(shù)據(jù)簡化分析和控制軟件MicroActive使用戶能交互式地計算比表面和孔隙度。通過圖形界面，用戶可以自己選擇數(shù)據(jù)范圍分析，從而直接編輯和解讀BET，t-plot，Langmuir和DFT模型結論。
應用實例：
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