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· 鑒別晶相和非晶相，并測(cè)定樣品純度

· 對(duì)多相混合物的晶相和非晶相進(jìn)行定量分析

· 微觀結(jié)構(gòu)分析（微晶尺寸、微應(yīng)變、無序…）

· 熱處理或加工制造組件產(chǎn)生的大量殘余應(yīng)力

· 織構(gòu)（擇優(yōu)取向）分析

· 指標(biāo)化、從頭晶體結(jié)構(gòu)測(cè)定和晶體結(jié)構(gòu)精修

對(duì)分布函數(shù)分析

對(duì)分布函數(shù)（PDF）分析是一種分析技術(shù)，它基于Bragg以及漫散射（“總散射”），提供無序材料的結(jié)構(gòu)信息。其中，您可以通過Bragg衍射峰，了解材料的平均晶體結(jié)構(gòu)的信息（即長(zhǎng)程有序），通過漫散射，表征其局部結(jié)構(gòu)（即短程有序）。

就分析速度、數(shù)據(jù)質(zhì)量以及對(duì)非晶、弱晶型、納米晶或納米結(jié)構(gòu)材料的分析結(jié)果而言，D8 ADVANCE和TOPAS軟件替代了市面上性能更好的PDF分析解決方案：

· 相鑒定

· 結(jié)構(gòu)測(cè)定和精修

· 納米粒度和形狀

薄膜和涂層

薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同，不過進(jìn)一步提供了光束調(diào)節(jié)和角度操控功能。典型示例包括但不限于相鑒定、晶體質(zhì)量、殘余應(yīng)力、織構(gòu)分析、厚度測(cè)定以及組分與應(yīng)變分析。在對(duì)薄膜和涂層進(jìn)行分析時(shí)，著重對(duì)厚度在nm和µm之間的層狀材料進(jìn)行特性分析（從非晶和多晶涂層到外延生長(zhǎng)薄膜）。

D8 ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進(jìn)行以下高質(zhì)量的薄膜分析：

· 掠入射衍射

· X射線反射法

· 高分辨率X射線衍射

· 倒易空間掃描