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harting 備件9670008177

KOBOLD Messring GmbH 301095

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STAUBLI NO0624312 

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hilma 8.2005.2805,1030799,F=84mm,38 09Z

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TUENKERS K 40.1 BR2 A10 T12 90?? 

FUNKE+HUSTER EL101-D

wampfler 08-K154-0108 Contain electronic black base 300VX1PX40A

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Dr. Thiedig VE50/62/2 600BAR W.NR.4571 200TN45.26.00

PMA 25089755 KS90-114-0000D-000

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Pfeiffer Mod:TPR 270 Range:1000-1*10(-4)mbar Mod.-No.:42237747 

WAM MT1120M02145 NO.Y7101086

MEROBEL 33600200

MEROBEL 33660500

探針是一小段單鏈DNA或者RN段(大約是20到500bp)，用于檢測(cè)與其互補(bǔ)的核酸序列。雙鏈DNA加熱變性成為單鏈，隨后用放射性同位素(通常用磷-32)、熒光染料或者酶(如辣根過(guò)氧化物酶)標(biāo)記成為探針。磷-32通常被摻入組成DNA的四種核苷酸之一的磷酸基團(tuán)中，而熒光染料和酶與核酸序列以共價(jià)鍵相連。

當(dāng)將探針與樣品雜交時(shí)，探針和與其互補(bǔ)的核酸(DNA或RNA)序列通過(guò)氫鍵緊密相連，隨后，未被雜交的多余探針被洗去。最后，根據(jù)探針的標(biāo)記物種類，可進(jìn)行放射自顯影、熒光發(fā)光、酶聯(lián)化學(xué)發(fā)光等方法來(lái)判斷樣品中是否，或者何位置含有被測(cè)序列(即與探針互補(bǔ)的序列)。

折疊編輯本段技術(shù)論壇

探針技術(shù)論壇是基于Linux開源理念和Hack共享精神為一站的綜合技術(shù)交流論壇。

折疊編輯本段電腦方面

一種Web腳本程序，實(shí)質(zhì)上是通過(guò)網(wǎng)頁(yè)編程語(yǔ)言(ASP、PHP、ASP等)實(shí)現(xiàn)探測(cè)服務(wù)器敏感信息的腳本文件，通常用于探測(cè)目錄、服務(wù)器操作系統(tǒng)、CPU數(shù)量、Session超時(shí)時(shí)間、服務(wù)器Session變量、 服務(wù)器Application變量、組件支持情況、運(yùn)算速度、磁盤讀寫速度以及網(wǎng)絡(luò)連接速度等。

折疊編輯本段測(cè)試方面

測(cè)試針，用于測(cè)試PCBA的一種探針。

表面鍍金，內(nèi)部有平均壽命3萬(wàn)~10萬(wàn)次的高性能彈簧。

國(guó)外比較有名的生產(chǎn)廠家有: QA ,IDI、UC、Semiprobe、ECT，INGUN，BT

探針的材質(zhì):W，ReW,CU、 A+

1.主要采用的材質(zhì)為W，ReW, 彈性一般，容易偏移，粘金屑，需要多次的清洗，磨損損針長(zhǎng)，壽命一般。

2. A+材質(zhì)的免清針，這種材質(zhì)彈性較好，測(cè)試中不容易偏移，并且不粘金屑，免清洗，因此壽命較長(zhǎng)。

探針?lè)诸?/span>

探針根據(jù)電子測(cè)試用途可分為:A、光電路板測(cè)試探針:未安裝元器件前的電路板測(cè)試和只開路、短路檢測(cè)探針，國(guó)內(nèi)大部分的探針產(chǎn)品均可替代進(jìn)口產(chǎn)品;

B、在線測(cè)試探針:PCB線路板安裝元器件后的檢測(cè)探針;高端產(chǎn)品的核心技術(shù)還是掌握在國(guó)外公司手中，國(guó)內(nèi)部分探針產(chǎn)品已研發(fā)成功，可替代進(jìn)口探針產(chǎn)品;

C、微電子測(cè)試探針:即晶圓測(cè)試或芯片IC檢測(cè)探針，核心技術(shù)還是掌握在國(guó)外公司手中，國(guó)內(nèi)生產(chǎn)廠商積極參與研發(fā)，但只有一小部分成功生產(chǎn)。

探針主要類型:懸臂探針和垂直探針。

懸臂探針:劈刀型(Blade Type)和環(huán)氧樹脂型(Epoxy Type)

垂直探針:垂直型(Vertical Type)

1.ICT探針 (ICT series Probes)

一般直徑在2.54mm-1.27mm之間，有業(yè)內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)稱呼100mil,75mil,50mil,還有更特別的直徑只有0.19mm,主要用于在線電路測(cè)試和功能測(cè)試.也稱ICT測(cè)試和FCT測(cè)試.也是目應(yīng)用較多的一種探針.

2.界面探針(Interface Probes)

非標(biāo)準(zhǔn)的探針，一般是為少數(shù)做大型測(cè)試機(jī)臺(tái)的客戶定做的，例如泰瑞達(dá)(Teradyne)和安捷倫(Agilent).用于測(cè)試機(jī)臺(tái)與測(cè)試夾具的接觸點(diǎn)和面.

3.微型探針(MicroSeries Probes)

兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)中心間距一般為0.25mm至0.76mm.

4.開關(guān)探針(Switch Probes)

開關(guān)探針單*支探針有兩路電流.

5.高頻探針(Coaxial Probes)

用于測(cè)試高頻信號(hào)，有帶屏蔽圈的可測(cè)試10GHz以內(nèi)的和500MHz不帶屏蔽圈的.

6.旋轉(zhuǎn)探針(Rotator Probes)

彈力一般不高，因?yàn)槠浯┩感员緛?lái)就很強(qiáng)，一般用于OSP處理過(guò)的PCBA測(cè)試.

7.高電流探針(High Current Probes)

探針直徑在2.54mm-4.75mm之間.最大的測(cè)試電流可達(dá)39amps.

8.半導(dǎo)體探針 (Semiconductor Probes)

直徑一般在0.50mm-1.27mm之間.帶寬大于10GHz,50Ω characteristic

9.電池接觸探針 (Battery and Connector Contacts)

一般用于優(yōu)化接觸效果，穩(wěn)定性好和壽命長(zhǎng).

10.汽車線束測(cè)試測(cè)試探針

專業(yè)用于汽車線束通斷檢測(cè)，直徑在1.0--3.5mm之間，電流在3----50A

除以上類型外還有溫度探針，Kelvin探針等，比較少用.

探針是一小段單鏈DNA或者RN段(大約是20到500bp)，用于檢測(cè)與其互補(bǔ)的核酸序列。雙鏈DNA加熱變性成為單鏈，隨后用放射性同位素(通常用磷-32)、熒光染料或者酶(如辣根過(guò)氧化物酶)標(biāo)記成為探針。磷-32通常被摻入組成DNA的四種核苷酸之一的磷酸基團(tuán)中，而熒光染料和酶與核酸序列以共價(jià)鍵相連。

當(dāng)將探針與樣品雜交時(shí)，探針和與其互補(bǔ)的核酸(DNA或RNA)序列通過(guò)氫鍵緊密相連，隨后，未被雜交的多余探針被洗去。最后，根據(jù)探針的標(biāo)記物種類，可進(jìn)行放射自顯影、熒光發(fā)光、酶聯(lián)化學(xué)發(fā)光等方法來(lái)判斷樣品中是否，或者何位置含有被測(cè)序列(即與探針互補(bǔ)的序列)。

折疊編輯本段技術(shù)論壇

探針技術(shù)論壇是基于Linux開源理念和Hack共享精神為一站的綜合技術(shù)交流論壇。

折疊編輯本段電腦方面

一種Web腳本程序，實(shí)質(zhì)上是通過(guò)網(wǎng)頁(yè)編程語(yǔ)言(ASP、PHP、ASP等)實(shí)現(xiàn)探測(cè)服務(wù)器敏感信息的腳本文件，通常用于探測(cè)目錄、服務(wù)器操作系統(tǒng)、CPU數(shù)量、Session超時(shí)時(shí)間、服務(wù)器Session變量、 服務(wù)器Application變量、組件支持情況、運(yùn)算速度、磁盤讀寫速度以及網(wǎng)絡(luò)連接速度等。

折疊編輯本段測(cè)試方面

測(cè)試針，用于測(cè)試PCBA的一種探針。

表面鍍金，內(nèi)部有平均壽命3萬(wàn)~10萬(wàn)次的高性能彈簧。

國(guó)外比較有名的生產(chǎn)廠家有: QA ,IDI、UC、Semiprobe、ECT，INGUN，BT

探針的材質(zhì):W，ReW,CU、 A+

1.主要采用的材質(zhì)為W，ReW, 彈性一般，容易偏移，粘金屑，需要多次的清洗，磨損損針長(zhǎng)，壽命一般。

2. A+材質(zhì)的免清針，這種材質(zhì)彈性較好，測(cè)試中不容易偏移，并且不粘金屑，免清洗，因此壽命較長(zhǎng)。

探針?lè)诸?/span>

探針根據(jù)電子測(cè)試用途可分為:A、光電路板測(cè)試探針:未安裝元器件前的電路板測(cè)試和只開路、短路檢測(cè)探針，國(guó)內(nèi)大部分的探針產(chǎn)品均可替代進(jìn)口產(chǎn)品;

B、在線測(cè)試探針:PCB線路板安裝元器件后的檢測(cè)探針;高端產(chǎn)品的核心技術(shù)還是掌握在國(guó)外公司手中，國(guó)內(nèi)部分探針產(chǎn)品已研發(fā)成功，可替代進(jìn)口探針產(chǎn)品;

C、微電子測(cè)試探針:即晶圓測(cè)試或芯片IC檢測(cè)探針，核心技術(shù)還是掌握在國(guó)外公司手中，國(guó)內(nèi)生產(chǎn)廠商積極參與研發(fā)，但只有一小部分成功生產(chǎn)。

探針主要類型:懸臂探針和垂直探針。

懸臂探針:劈刀型(Blade Type)和環(huán)氧樹脂型(Epoxy Type)

垂直探針:垂直型(Vertical Type)

1.ICT探針 (ICT series Probes)

一般直徑在2.54mm-1.27mm之間，有業(yè)內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)稱呼100mil,75mil,50mil,還有更特別的直徑只有0.19mm,主要用于在線電路測(cè)試和功能測(cè)試.也稱ICT測(cè)試和FCT測(cè)試.也是目應(yīng)用較多的一種探針.

2.界面探針(Interface Probes)

非標(biāo)準(zhǔn)的探針，一般是為少數(shù)做大型測(cè)試機(jī)臺(tái)的客戶定做的，例如泰瑞達(dá)(Teradyne)和安捷倫(Agilent).用于測(cè)試機(jī)臺(tái)與測(cè)試夾具的接觸點(diǎn)和面.

3.微型探針(MicroSeries Probes)

兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)中心間距一般為0.25mm至0.76mm.

4.開關(guān)探針(Switch Probes)

開關(guān)探針單*支探針有兩路電流.

5.高頻探針(Coaxial Probes)

用于測(cè)試高頻信號(hào)，有帶屏蔽圈的可測(cè)試10GHz以內(nèi)的和500MHz不帶屏蔽圈的.

6.旋轉(zhuǎn)探針(Rotator Probes)

彈力一般不高，因?yàn)槠浯┩感员緛?lái)就很強(qiáng)，一般用于OSP處理過(guò)的PCBA測(cè)試.

7.高電流探針(High Current Probes)

探針直徑在2.54mm-4.75mm之間.最大的測(cè)試電流可達(dá)39amps.

8.半導(dǎo)體探針 (Semiconductor Probes)

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9.電池接觸探針 (Battery and Connector Contacts)

一般用于優(yōu)化接觸效果，穩(wěn)定性好和壽命長(zhǎng).

10.汽車線束測(cè)試測(cè)試探針

專業(yè)用于汽車線束通斷檢測(cè)，直徑在1.0--3.5mm之間，電流在3----50A

除以上類型外還有溫度探針，Kelvin探針等，比較少用.

探針是一小段單鏈DNA或者RN段(大約是20到500bp)，用于檢測(cè)與其互補(bǔ)的核酸序列。雙鏈DNA加熱變性成為單鏈，隨后用放射性同位素(通常用磷-32)、熒光染料或者酶(如辣根過(guò)氧化物酶)標(biāo)記成為探針。磷-32通常被摻入組成DNA的四種核苷酸之一的磷酸基團(tuán)中，而熒光染料和酶與核酸序列以共價(jià)鍵相連。

當(dāng)將探針與樣品雜交時(shí)，探針和與其互補(bǔ)的核酸(DNA或RNA)序列通過(guò)氫鍵緊密相連，隨后，未被雜交的多余探針被洗去。最后，根據(jù)探針的標(biāo)記物種類，可進(jìn)行放射自顯影、熒光發(fā)光、酶聯(lián)化學(xué)發(fā)光等方法來(lái)判斷樣品中是否，或者何位置含有被測(cè)序列(即與探針互補(bǔ)的序列)。

折疊編輯本段技術(shù)論壇

探針技術(shù)論壇是基于Linux開源理念和Hack共享精神為一站的綜合技術(shù)交流論壇。

折疊編輯本段電腦方面

一種Web腳本程序，實(shí)質(zhì)上是通過(guò)網(wǎng)頁(yè)編程語(yǔ)言(ASP、PHP、ASP等)實(shí)現(xiàn)探測(cè)服務(wù)器敏感信息的腳本文件，通常用于探測(cè)目錄、服務(wù)器操作系統(tǒng)、CPU數(shù)量、Session超時(shí)時(shí)間、服務(wù)器Session變量、 服務(wù)器Application變量、組件支持情況、運(yùn)算速度、磁盤讀寫速度以及網(wǎng)絡(luò)連接速度等。

折疊編輯本段測(cè)試方面

測(cè)試針，用于測(cè)試PCBA的一種探針。

表面鍍金，內(nèi)部有平均壽命3萬(wàn)~10萬(wàn)次的高性能彈簧。

國(guó)外比較有名的生產(chǎn)廠家有: QA ,IDI、UC、Semiprobe、ECT，INGUN，BT

探針的材質(zhì):W，ReW,CU、 A+

1.主要采用的材質(zhì)為W，ReW, 彈性一般，容易偏移，粘金屑，需要多次的清洗，磨損損針長(zhǎng)，壽命一般。

2. A+材質(zhì)的免清針，這種材質(zhì)彈性較好，測(cè)試中不容易偏移，并且不粘金屑，免清洗，因此壽命較長(zhǎng)。

探針?lè)诸?/span>

探針根據(jù)電子測(cè)試用途可分為:A、光電路板測(cè)試探針:未安裝元器件前的電路板測(cè)試和只開路、短路檢測(cè)探針，國(guó)內(nèi)大部分的探針產(chǎn)品均可替代進(jìn)口產(chǎn)品;

B、在線測(cè)試探針:PCB線路板安裝元器件后的檢測(cè)探針;高端產(chǎn)品的核心技術(shù)還是掌握在國(guó)外公司手中，國(guó)內(nèi)部分探針產(chǎn)品已研發(fā)成功，可替代進(jìn)口探針產(chǎn)品;

C、微電子測(cè)試探針:即晶圓測(cè)試或芯片IC檢測(cè)探針，核心技術(shù)還是掌握在國(guó)外公司手中，國(guó)內(nèi)生產(chǎn)廠商積極參與研發(fā)，但只有一小部分成功生產(chǎn)。

探針主要類型:懸臂探針和垂直探針。

懸臂探針:劈刀型(Blade Type)和環(huán)氧樹脂型(Epoxy Type)

垂直探針:垂直型(Vertical Type)

1.ICT探針 (ICT series Probes)

一般直徑在2.54mm-1.27mm之間，有業(yè)內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)稱呼100mil,75mil,50mil,還有更特別的直徑只有0.19mm,主要用于在線電路測(cè)試和功能測(cè)試.也稱ICT測(cè)試和FCT測(cè)試.也是目應(yīng)用較多的一種探針.

2.界面探針(Interface Probes)

非標(biāo)準(zhǔn)的探針，一般是為少數(shù)做大型測(cè)試機(jī)臺(tái)的客戶定做的，例如泰瑞達(dá)(Teradyne)和安捷倫(Agilent).用于測(cè)試機(jī)臺(tái)與測(cè)試夾具的接觸點(diǎn)和面.

3.微型探針(MicroSeries Probes)

兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)中心間距一般為0.25mm至0.76mm.

4.開關(guān)探針(Switch Probes)

開關(guān)探針單*支探針有兩路電流.

5.高頻探針(Coaxial Probes)

用于測(cè)試高頻信號(hào)，有帶屏蔽圈的可測(cè)試10GHz以內(nèi)的和500MHz不帶屏蔽圈的.

6.旋轉(zhuǎn)探針(Rotator Probes)

彈力一般不高，因?yàn)槠浯┩感员緛?lái)就很強(qiáng)，一般用于OSP處理過(guò)的PCBA測(cè)試.

7.高電流探針(High Current Probes)

探針直徑在2.54mm-4.75mm之間.最大的測(cè)試電流可達(dá)39amps.

8.半導(dǎo)體探針 (Semiconductor Probes)

直徑一般在0.50mm-1.27mm之間.帶寬大于10GHz,50Ω characteristic

9.電池接觸探針 (Battery and Connector Contacts)

一般用于優(yōu)化接觸效果，穩(wěn)定性好和壽命長(zhǎng).

10.汽車線束測(cè)試測(cè)試探針

專業(yè)用于汽車線束通斷檢測(cè)，直徑在1.0--3.5mm之間，電流在3----50A

除以上類型外還有溫度探針，Kelvin探針等，比較少用.

探針是一小段單鏈DNA或者RN段(大約是20到500bp)，用于檢測(cè)與其互補(bǔ)的核酸序列。雙鏈DNA加熱變性成為單鏈，隨后用放射性同位素(通常用磷-32)、熒光染料或者酶(如辣根過(guò)氧化物酶)標(biāo)記成為探針。磷-32通常被摻入組成DNA的四種核苷酸之一的磷酸基團(tuán)中，而熒光染料和酶與核酸序列以共價(jià)鍵相連。

當(dāng)將探針與樣品雜交時(shí)，探針和與其互補(bǔ)的核酸(DNA或RNA)序列通過(guò)氫鍵緊密相連，隨后，未被雜交的多余探針被洗去。最后，根據(jù)探針的標(biāo)記物種類，可進(jìn)行放射自顯影、熒光發(fā)光、酶聯(lián)化學(xué)發(fā)光等方法來(lái)判斷樣品中是否，或者何位置含有被測(cè)序列(即與探針互補(bǔ)的序列)。

折疊編輯本段技術(shù)論壇

探針技術(shù)論壇是基于Linux開源理念和Hack共享精神為一站的綜合技術(shù)交流論壇。

折疊編輯本段電腦方面

一種Web腳本程序，實(shí)質(zhì)上是通過(guò)網(wǎng)頁(yè)編程語(yǔ)言(ASP、PHP、ASP等)實(shí)現(xiàn)探測(cè)服務(wù)器敏感信息的腳本文件，通常用于探測(cè)目錄、服務(wù)器操作系統(tǒng)、CPU數(shù)量、Session超時(shí)時(shí)間、服務(wù)器Session變量、 服務(wù)器Application變量、組件支持情況、運(yùn)算速度、磁盤讀寫速度以及網(wǎng)絡(luò)連接速度等。

折疊編輯本段測(cè)試方面

測(cè)試針，用于測(cè)試PCBA的一種探針。

表面鍍金，內(nèi)部有平均壽命3萬(wàn)~10萬(wàn)次的高性能彈簧。

國(guó)外比較有名的生產(chǎn)廠家有: QA ,IDI、UC、Semiprobe、ECT，INGUN，BT

探針的材質(zhì):W，ReW,CU、 A+

1.主要采用的材質(zhì)為W，ReW, 彈性一般，容易偏移，粘金屑，需要多次的清洗，磨損損針長(zhǎng)，壽命一般。

2. A+材質(zhì)的免清針，這種材質(zhì)彈性較好，測(cè)試中不容易偏移，并且不粘金屑，免清洗，因此壽命較長(zhǎng)。

探針?lè)诸?/span>

探針根據(jù)電子測(cè)試用途可分為:A、光電路板測(cè)試探針:未安裝元器件前的電路板測(cè)試和只開路、短路檢測(cè)探針，國(guó)內(nèi)大部分的探針產(chǎn)品均可替代進(jìn)口產(chǎn)品;

B、在線測(cè)試探針:PCB線路板安裝元器件后的檢測(cè)探針;高端產(chǎn)品的核心技術(shù)還是掌握在國(guó)外公司手中，國(guó)內(nèi)部分探針產(chǎn)品已研發(fā)成功，可替代進(jìn)口探針產(chǎn)品;

C、微電子測(cè)試探針:即晶圓測(cè)試或芯片IC檢測(cè)探針，核心技術(shù)還是掌握在國(guó)外公司手中，國(guó)內(nèi)生產(chǎn)廠商積極參與研發(fā)，但只有一小部分成功生產(chǎn)。

探針主要類型:懸臂探針和垂直探針。

懸臂探針:劈刀型(Blade Type)和環(huán)氧樹脂型(Epoxy Type)

垂直探針:垂直型(Vertical Type)

1.ICT探針 (ICT series Probes)

一般直徑在2.54mm-1.27mm之間，有業(yè)內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)稱呼100mil,75mil,50mil,還有更特別的直徑只有0.19mm,主要用于在線電路測(cè)試和功能測(cè)試.也稱ICT測(cè)試和FCT測(cè)試.也是目應(yīng)用較多的一種探針.

2.界面探針(Interface Probes)

非標(biāo)準(zhǔn)的探針，一般是為少數(shù)做大型測(cè)試機(jī)臺(tái)的客戶定做的，例如泰瑞達(dá)(Teradyne)和安捷倫(Agilent).用于測(cè)試機(jī)臺(tái)與測(cè)試夾具的接觸點(diǎn)和面.

3.微型探針(MicroSeries Probes)

兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)中心間距一般為0.25mm至0.76mm.

4.開關(guān)探針(Switch Probes)

開關(guān)探針單*支探針有兩路電流.

5.高頻探針(Coaxial Probes)

用于測(cè)試高頻信號(hào)，有帶屏蔽圈的可測(cè)試10GHz以內(nèi)的和500MHz不帶屏蔽圈的.

6.旋轉(zhuǎn)探針(Rotator Probes)

彈力一般不高，因?yàn)槠浯┩感员緛?lái)就很強(qiáng)，一般用于OSP處理過(guò)的PCBA測(cè)試.

7.高電流探針(High Current Probes)

探針直徑在2.54mm-4.75mm之間.最大的測(cè)試電流可達(dá)39amps.

8.半導(dǎo)體探針 (Semiconductor Probes)

直徑一般在0.50mm-1.27mm之間.帶寬大于10GHz,50Ω characteristic

9.電池接觸探針 (Battery and Connector Contacts)

一般用于優(yōu)化接觸效果，穩(wěn)定性好和壽命長(zhǎng).

10.汽車線束測(cè)試測(cè)試探針

專業(yè)用于汽車線束通斷檢測(cè)，直徑在1.0--3.5mm之間，電流在3----50A

除以上類型外還有溫度探針，Kelvin探針等，比較少用.