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XDAL600菲希爾X射線測厚儀，由于測量距離可以調(diào)節(jié)（.大可達(dá) 80 mm），適用于測試已布元器件的電路板或腔體結(jié)構(gòu)的部件

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FISCHER XULM240菲希爾，XULM特別適合測量細(xì)小的部件如連接器，觸點或線，也可以測量印刷線路板上的Au，Ni和Cu鍍層厚度。即使80nm的很薄的金...

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FISCHERSCOPE X-RAY XULM240，多用途的鍍層厚度測量儀。無論是薄的還是厚的鍍層（如50 nm Au或100 μmSn）都通過選擇好的高壓濾...

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