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昕銳X1200Pro測距儀

昕銳X1200Pro測距儀技術(shù)參數(shù)

激光測距儀測量法具有以下優(yōu)點(diǎn)。

　?、倩谙蛭矬w發(fā)射能量，不存在盲區(qū)(Missing part)。

　?、趯?duì)物體表面性質(zhì)(顏色、質(zhì)地、紋理)不加限制。

　?、劭芍苯舆M(jìn)行測量。

　?、軣o需取得圖像及對(duì)圖像作分析處理。

969年，Hildebrand和Haines從相干光學(xué)的觀點(diǎn)出發(fā)，提出了一種采用雙波長光源的全信息等高技術(shù)。它可以在物體上生成等高線，等高線的分辨率取決于光源波長，且不能任意變化。Hildebrand和Haines提出的另一種方法是由兩個(gè)具有不同波長的點(diǎn)光源產(chǎn)生的干涉條紋在物體上生成等高線，與種方法相比，第二種方法產(chǎn)生的等高線圖的分辨率可以從波長級(jí)變化到忽米級(jí)。對(duì)于雙光源系統(tǒng)來說，其主要問題是，若物體上有一些“漩渦花樣"，特定區(qū)域?qū)⒉荒芮逦孛枥L出全息等高圖。相關(guān)測量法對(duì)測量環(huán)境要求*，一般只能在實(shí)驗(yàn)室條件下測量，且不易于實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化。