熒光法殘氧儀/頂空分析儀

熒光法是一款熒光衰減法原理的殘氧分析儀，將微頂空的樣氣通過(guò)專(zhuān)門(mén)的氣體采集裝置采集到內(nèi)部置有熒光貼片的采集漏斗。然后采用熒光法檢測(cè)頂空殘氧。熒光檢測(cè)原理：氧分子和熒光貼片中的熒光物質(zhì)接觸后，使得熒光物質(zhì)發(fā)射的熒光信號(hào)減弱。信號(hào)衰減程度和氧含量成正比。
熒光采樣分析的檢測(cè)方式與電化學(xué)的取樣分析不同，熒光法只需要對(duì)樣品采集最小 0.1ml的樣氣，并且熒光法的測(cè)試精度更高，符合 ASTM F2714-08標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法。
熒光法可以適用于安瓿瓶、西林瓶、預(yù)注射等微小頂空的殘氧測(cè)試，測(cè)試結(jié)果可靠，不受樣氣量大小的影響。

熒光法殘氧儀/頂空分析儀

X-325i是一款常用于制藥行業(yè)集頂空殘氧/溶解氧的多功能分析儀。這款設(shè)備是基于光學(xué)感應(yīng)的熒光衰減法檢測(cè)原理，頂空分析過(guò)程不對(duì)樣品進(jìn)行采樣，對(duì)頂空樣氣體積及頂空條件（如負(fù)壓）無(wú)要求，最小樣氣量?jī)H需0.1ml即可完成精準(zhǔn)分析。有別于傳統(tǒng)方法諸如電化學(xué)、氧化鋯等對(duì)樣氣量、頂空條件（負(fù)壓）有要求的采樣分析方式。