目錄:上海量通實(shí)業(yè)有限公司>>分析儀器>>粒度及ZETA電位分析儀>> Litesizer 500納米粒度及Zeta電位分析儀
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更新時(shí)間:2024-10-28 13:05:39瀏覽次數(shù):2069評(píng)價(jià)
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奧地利Anton Paar公司Litesizer 500納米粒度及Zeta電位分析儀的主要功能和優(yōu)勢(shì):
1) Litesizer 500納米粒度及Zeta電位分析儀采用40mW 658nm高能半導(dǎo)體激光器,結(jié)合超高靈敏的光路設(shè)計(jì)和APD檢測(cè)器,將粒度測(cè)試和Zeta電位測(cè)試的靈敏度和準(zhǔn)確度提高到*的高度;
2) 粒度測(cè)試采用三個(gè)角度(15º, 90º, 175º) ,結(jié)合非侵入式背散射技術(shù),同時(shí)符合ISO13321和ISO22412標(biāo)準(zhǔn),具有極寬的適用性;
3) Zeta電位測(cè)試采用cmPALS專有技術(shù),相比傳統(tǒng)的PALS技術(shù),可在更低電壓下測(cè)試,縮短了測(cè)量時(shí)間,同時(shí)大大提高了重復(fù)性和準(zhǔn)確度;
4) 優(yōu)化的Zeta 電位樣品池,具有*的 Ω 形毛細(xì)管。這種形狀意味著電泳光散射 (ELS) 測(cè)量可不受測(cè)量位置影響,在測(cè)試通道內(nèi)形成均勻電場(chǎng),保證結(jié)果的穩(wěn)定性和可重復(fù)性;
5) 實(shí)時(shí)測(cè)定透光率。儀器根據(jù)透光率自動(dòng)設(shè)置測(cè)試參數(shù),比如聚焦位置、檢測(cè)角度、濾光強(qiáng)度以及測(cè)試時(shí)間;
6) 所有光學(xué)器件放置在內(nèi)置保護(hù)殼中,降低振動(dòng)帶來(lái)的影響,確保測(cè)量不受灰塵或溫度波動(dòng)影響;
7) 基于WIN 10平臺(tái)開(kāi)發(fā)的軟件,簡(jiǎn)明易用,所有內(nèi)容都集中在一個(gè)頁(yè)面上,輸入?yún)?shù)、測(cè)量和分析集中在一個(gè)頁(yè)面,只需輕觸一鍵即可完成測(cè)試;
8) 可測(cè)試分子量,第二維利系數(shù)A2。
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)