物鏡VMU-H 鏡頭日本三豐Mitutoyo顯微鏡
小型且輕量的照相機(jī)觀察用顯微鏡
378-505 378-506
金屬、樹(shù)脂、印刷面、微小的

?適用于YAG激光器（近紅外、可見(jiàn)、近紫外線(xiàn)、紫外線(xiàn)）的微細(xì)加工※1
半導(dǎo)體電路的切割、修剪、修正、標(biāo)記、薄膜（絕緣膜）的去除、加工、液晶濾色器等修復(fù)（缺陷修正）等。
?支持紅外光學(xué)系統(tǒng)※2
硅系的內(nèi)部觀察、紅外線(xiàn)的光譜特性分析等。

物鏡VMU-H 鏡頭日本三豐Mitutoyo顯微鏡

 

VMU
378 系列 — 視頻顯微鏡系統(tǒng)
• 緊湊輕量型顯微鏡，相機(jī)觀察用型。適于
檢測(cè)金屬表面、半導(dǎo)體、液晶面板、樹(shù)脂等。
• 多種鏡體通常用作適用于專(zhuān)業(yè)器械的OEM
(原廠(chǎng)委制) 產(chǎn)品，如那些利用YAG (近紅外、
可見(jiàn)、近紫外或紫外) 激光* 對(duì)半導(dǎo)體晶片
進(jìn)行檢測(cè)和修補(bǔ)的設(shè)備。
* 不保證激光系統(tǒng)產(chǎn)品的性能和安全性。
應(yīng)用：切割、修整、校正、 給半導(dǎo)體電路做
標(biāo)記/ 薄膜(絕緣膜) 清潔與加工、液晶彩色
濾光器的修復(fù) (校正錯(cuò)誤)。還可用作光學(xué)觀
察剖面圖以便探頭分析半導(dǎo)體故障。
• 對(duì)于VMU-LB 和 VMU-LB， 顯微鏡主件的剛度
和總體性能與之前的型號(hào)相比已有所提高。
• 應(yīng)用*: 晶體硅的內(nèi)部觀察、紅外光譜特征
分析等。
* 需要紅外光源和紅外攝像機(jī)。
• 配有孔徑光闌的遠(yuǎn)心光學(xué)系統(tǒng)是表面照明
光學(xué)系統(tǒng)上的標(biāo)準(zhǔn)配件。適于需要均勻
照明的圖像處理。可用于尺寸測(cè)量、形狀
檢驗(yàn)、定位等。
• 設(shè)計(jì)和制造均能滿(mǎn)足您的需求，如雙攝影
機(jī)架、雙(低/ 高) 放大率觀察。

物鏡VMU-H 鏡頭日本三豐Mitutoyo顯微鏡

 

378-826-5	100倍	0.50	12.0毫米	--
378-827-5	20倍/t1.1	0.42	19.98毫米	--
378-828-5	50倍/t1.1	0.42	17.13毫米	--
378-829-5	50倍/噸0.7	0.42	17.26毫米	--
378-831-7	2倍	0.055	34.0毫米	--
378-832-7	5倍	0.14	34.0毫米	--
378-833-7	10倍	0.28	33.5毫米	--
378-834-7	20倍	0.42	20.0毫米	--
378-835-7	50倍	0.55	13.0毫米	--
378-836-7	100倍	0.70	6.0毫米	--