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詳細(xì)摘要： 介損儀/抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x外殼接地屏蔽，另外使用了光導(dǎo)數(shù)據(jù)，浮空地、大面積地、單點(diǎn)地、數(shù)字濾波等抗干擾技術(shù)，加之計(jì)算機(jī)對(duì)數(shù)百個(gè)電網(wǎng)周期的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，故測(cè)量結(jié)...

詳細(xì)摘要： 電纜超低頻介質(zhì)損耗測(cè)試儀采用最新電力電子元器件和最新 ARM7 單片機(jī)技術(shù)，進(jìn)一步降低了設(shè)備的體積和重量，傻瓜式操作，性能更穩(wěn)定，克服了第一代機(jī)械式升壓器使用壽...

詳細(xì)摘要： 變頻介損測(cè)試介質(zhì)損耗測(cè)試儀主電源的頻率為45HZ和55HZ，避開了工頻電場(chǎng)對(duì)試品的干擾，從根本上解決了強(qiáng)電場(chǎng)干擾下準(zhǔn)確測(cè)量的難題。同時(shí)適用于全部停電后用發(fā)電機(jī)供...

詳細(xì)摘要： 異頻介損測(cè)試儀/變頻介質(zhì)損耗測(cè)試設(shè)備高壓輸出導(dǎo)線采用特殊材料專門制作，能直接拖地使用。10KV輸出時(shí)，對(duì)地?zé)o放電、無(wú)泄漏、無(wú)聲響。

詳細(xì)摘要： 供應(yīng)優(yōu)質(zhì)介質(zhì)損耗測(cè)試儀反接可使用一根線，測(cè)量電壓緩升、緩降，全自動(dòng)測(cè)量，結(jié)果直讀，無(wú)須換算。介質(zhì)損耗測(cè)試儀*抗干擾處理有效解決現(xiàn)場(chǎng)干擾，

詳細(xì)摘要： 抗干擾高壓介質(zhì)損耗測(cè)試儀淘汰了QSI高壓電橋，具有操作簡(jiǎn)單、中文顯示、打印，使用方便、無(wú)需換算、自帶高壓，抗干擾能力強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn)。

詳細(xì)摘要： 智能化介質(zhì)損耗測(cè)試設(shè)備測(cè)量過(guò)程由微處理器控制，只要選擇好合適的測(cè)量方式，數(shù)據(jù)的測(cè)量就可在微處理器控制下自動(dòng)完成。

詳細(xì)摘要： 全自動(dòng)/異頻/變頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀達(dá)到抗干擾能力強(qiáng)、測(cè)試速度快、精度高、全自動(dòng)數(shù)字化、操作簡(jiǎn)便；

詳細(xì)摘要： 介質(zhì)損耗測(cè)試|變頻式介損測(cè)試儀配備有日歷芯片和大容量存儲(chǔ)器，能將檢測(cè)結(jié)果按時(shí)間順序保存，隨時(shí)可以查看歷史記錄，并可以打印輸出；

詳細(xì)摘要： 異頻介質(zhì)損耗測(cè)試儀-標(biāo)準(zhǔn)型采用復(fù)數(shù)電流法，測(cè)量電容、介質(zhì)損耗及其它參數(shù)。測(cè)試結(jié)果精度高，便于實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)量。

詳細(xì)摘要： 介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x/變頻異頻測(cè)試采用自動(dòng)跟蹤干擾抵償電路，將矢量運(yùn)算法與移相法結(jié)合，有效地消除強(qiáng)電場(chǎng)干擾對(duì)測(cè)量的影響，

詳細(xì)摘要： 變頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x測(cè)試通過(guò)測(cè)量電路分別測(cè)得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位差，再由數(shù)字信號(hào)處理器運(yùn)用數(shù)字化實(shí)時(shí)采集方法，

詳細(xì)摘要： 異頻介質(zhì)損耗試驗(yàn)儀/超高壓測(cè)試裝置具有靈活的擴(kuò)展性，通過(guò)接口與計(jì)算機(jī)連接，使用強(qiáng)大的軟件附件，對(duì)儀器升級(jí)，人性化設(shè)計(jì)，

詳細(xì)摘要： 測(cè)試范圍寬介質(zhì)損耗測(cè)試儀采用了變頻技術(shù)來(lái)消除現(xiàn)場(chǎng)50Hz工頻干擾，即使在強(qiáng)電磁干擾的環(huán)境下也能測(cè)得可靠的數(shù)據(jù)。

詳細(xì)摘要： 變頻 超高壓介質(zhì)損耗測(cè)試儀可實(shí)現(xiàn)CVT的自激法測(cè)試，無(wú)需外置附件，一次測(cè)量C1,C2的電容和介損全部測(cè)出。

詳細(xì)摘要： 程控高壓介質(zhì)損耗測(cè)試裝置內(nèi)置自動(dòng)跟蹤的變頻電源，能有效地消除強(qiáng)烈電場(chǎng)干擾對(duì)測(cè)量的影響，適用于500kv極其以下電站的強(qiáng)干擾現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)。

詳細(xì)摘要： 生產(chǎn)JSY-II介質(zhì)損耗測(cè)試儀由數(shù)字信號(hào)處理器運(yùn)用數(shù)字化實(shí)時(shí)采集方法，通過(guò)矢量運(yùn)算得出試品的電容值和介質(zhì)損耗正切值。儀器內(nèi)部已經(jīng)采用了抗干擾措施，保障在外電場(chǎng)干...

詳細(xì)摘要： 介損儀、全自動(dòng)介質(zhì)損耗測(cè)試儀輸入電壓波動(dòng)、高壓電流、輸出短路、電源故障、過(guò)壓、過(guò)流、溫度等多重保護(hù)措施，保證了儀器安全、可靠。

詳細(xì)摘要： JSY-B介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x分別使用內(nèi)高壓、外高壓、內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)、外標(biāo)準(zhǔn)、正接法、反接法、自激法等多種方式測(cè)試；

詳細(xì)摘要： 蘇霍批發(fā)高頻介質(zhì)損耗測(cè)試儀操作簡(jiǎn)便，測(cè)量過(guò)程由微處理器控制，只要選擇好合適的測(cè)量方式，數(shù)據(jù)的測(cè)量就可在微處理器控制下自動(dòng)完成。