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     由于絕緣電阻測量的局限性，所以在絕緣試驗(yàn)中就出現(xiàn)了測量泄漏電流的項(xiàng)目。關(guān)于泄漏電流 （ｉＬ） 的概念在上節(jié)中已加以說明。測量泄漏電流所用的設(shè)備要比兆歐表復(fù)雜，一般用直流高壓發(fā)生器進(jìn)行測試。

由于試驗(yàn)電壓高，所以就容易暴露絕緣本身的弱點(diǎn)，用微安表直測泄漏電流，這可以做到隨時進(jìn)行監(jiān)視，靈敏度高。并且可以用電壓和電流、電流和時間的關(guān)系曲線來判斷絕緣的缺陷。因此，它屬于非破壞性試驗(yàn)的方法。

    直流耐壓試驗(yàn)往往可以發(fā)現(xiàn)一些交流耐壓試驗(yàn)中不易發(fā)現(xiàn)的局部缺陷，如發(fā)電機(jī)的端部絕緣缺陷，同時還具有試驗(yàn)設(shè)備較輕便，沒有極化損失，對絕緣的破壞比交流電壓要小得多等特點(diǎn)，所以得到了廣泛的使用。它是屬于破壞性的試驗(yàn)。它和交流耐壓試驗(yàn)是互補(bǔ)的，不能互相代替。而試驗(yàn)電壓值對各種電氣設(shè)備是不同的。

試驗(yàn)原理：

由上節(jié)所述，將直流電壓加到絕緣上時，其泄漏電流是不衰減的，在加壓到一定時間以后，微安表的讀數(shù)就等于泄漏電流值。絕緣良好時，泄漏電流和電壓的關(guān)系幾乎呈一直線，且上升較??；絕緣受潮時，泄漏電流則上升較大；當(dāng)絕緣有貫通性缺陷時，泄漏電流將猛增，和電壓的關(guān)系就不是直線了。因此，通過泄漏電流和電壓之間變化的關(guān)系曲線就可以對絕緣狀態(tài)進(jìn)行分析判斷。

試驗(yàn)裝置的原理接線：

位置I：微安表處于高電位，測量準(zhǔn)確，但微安表對地絕緣應(yīng)良好。

測量泄漏電流和直流耐壓（試驗(yàn)接線圖）

Ｔ１ －自耦變壓器；Ｔ２ －升壓變壓器；Ｖ －高壓整流硅堆；Ｒ １ －保護(hù)電阻；

μＡ －微安表；Ｃ －穩(wěn)壓電容器；ｍ Ａ －測壓用毫安表；Ｒ －測壓用電阻；Ｃ ｘ －被試品；ｒ －保護(hù)電阻

位置Ⅱ：微安表處于低電位，讀數(shù)方便，但測量有誤差。

位置Ⅲ：微安表處于低電位，讀數(shù)方便， 測量準(zhǔn) 確，但被 試品下 端不能 直接 接地，

這是優(yōu)先采用的位置。

影響因素和分析判斷

影響因素

（1） 溫度的影響。當(dāng)溫度升高時，泄漏電流增大，所以在 《電力設(shè)備預(yù)防性試驗(yàn)規(guī)程》 中規(guī)定發(fā)電機(jī)在停機(jī)后清除污穢前熱狀態(tài)下進(jìn)行。處于備用狀態(tài)時，可在冷態(tài)下進(jìn)行 （應(yīng)在＋５ ℃以上進(jìn)行）。

（2）表面污染的影響。由于實(shí)測的泄漏電流應(yīng)該是容積泄漏電流，所以應(yīng)對被試設(shè)備的表面應(yīng)進(jìn)行清掃和干燥，以消除表面泄漏電流的影響，也可采用屏蔽環(huán)將表面泄漏電流短路而不流過微安表。

（3）加壓速度的影響。加壓速度過快，將影響吸收過程的完成，對電容量大的設(shè)備就有影響。在 《電力設(shè)備預(yù) 防性試 驗(yàn)規(guī)程》 中規(guī) 定試驗(yàn) 電壓按 每級 ０．５ｕ ｎ（ｕｐ ：額 定線電壓） 分階段升高，每階段停留１ ｍｉｎ 。

（4）微安表位置和高壓連線的影響。這主要是雜散電流和電暈電流的影響。應(yīng)按制造廠說明書接線及加屏蔽。

（5）試驗(yàn)電壓波形和極性的影響。要求試驗(yàn)電壓的電源波形是正弦波形（交 流）。對油紙絕緣用負(fù)極性試驗(yàn)易于發(fā)現(xiàn)絕緣缺陷；對少油斷路器等泄漏電流較小的設(shè)備可采用正極性試驗(yàn)電壓。按 《電力設(shè)備預(yù)防性試驗(yàn)規(guī)程》 要求，一般情況下應(yīng)采用負(fù)極性接線。

（6）濕度影響。和絕緣電阻相似，應(yīng)在空氣相對濕度80 ％以下進(jìn)行。