透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統(tǒng)是在標準外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結(jié)構進行操縱和電學測量，并可在電學測量的同時，動態(tài)、高分辨地對樣品的晶體結(jié)構、化學組分、元素價態(tài)進行綜合表征，*地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領域。

         透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統(tǒng)是在標配的STM-TEM樣品桿上集成低溫環(huán)境控制單元，從而實現(xiàn)在透射電鏡中進行原位低溫電學測量的目的。

性能指標
 

透射電鏡指標：

● 兼容電鏡型號及極靴；

● 可選雙傾版本，雙傾電學測量樣品桿Y軸傾角±25°（同時受限于極靴間距）；

● 保證透射電鏡原有分辨率。

電學測量指標：

● 包含一個電流電壓測試單元；

● 電流測量范圍：１ nA-30 mA，9個量程；

● 電流分辨率：優(yōu)于100 fA；

● 電壓輸出范圍：普通模式±10 V，高壓模式±150 V；

● 自動電流-電壓（I-V）測量、電流-時間（I-t）測量，自動保存。

掃描探針操縱指標：

● 粗調(diào)范圍：XY方向2.5 mm，Z方向1.5 mm；

● 細調(diào)范圍：XY方向18 um，Z方向1.5 um；

● 細調(diào)分辨率：XY方向0.4 nm，Z方向0.04 nm。

光纖指標：

● 光纖外徑250 um，保證電鏡系統(tǒng)真空指標；

● 可選光纖探針、平頭光纖、光纖透鏡；

● 可選SMA接頭、FC接頭。

產(chǎn)品特色

（1）采用雙向光纖，可應用于CL光譜、光電探測及電致發(fā)光光譜等研究；

（2）光電一體化解決方案，具有高拓展性；

（3）高穩(wěn)定性，保證電鏡原有分辨率。

以上就是北京麥迪森科技有限公司提供的透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統(tǒng)，詳細了解：153-01-31-01-16