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| 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源 |
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
光伏組件EL檢測(cè)儀在太陽(yáng)能電池片生產(chǎn)中，EL檢測(cè)儀可以應(yīng)用于太陽(yáng)能電池片分機(jī)來(lái)識(shí)別機(jī)器視覺系統(tǒng)不容易識(shí)別的內(nèi)部缺陷，如黑心、黑斑、斷柵、隱裂、碎片等缺陷。蘇州萊科斯科技公司把EL檢測(cè)應(yīng)用太陽(yáng)能電池片分選機(jī)中，在電池片、硅片的分選中，普通的缺陷、顏色可通過(guò)機(jī)器視覺系統(tǒng)進(jìn)行識(shí)別判斷，但對(duì)于一些內(nèi)部缺陷 系統(tǒng)不易識(shí)別或容易漏檢，這樣就導(dǎo)致分選設(shè)備誤判或漏判分選效率不高。MVC-GF分選機(jī)集機(jī)器視覺、EL檢測(cè)、紅外技術(shù)、自動(dòng)化等技術(shù)于一體，可以實(shí)現(xiàn)電池片正、反缺陷、顏色、內(nèi)部缺陷進(jìn)行識(shí)別判斷分選，檢測(cè)速度達(dá)到同類水平，檢測(cè)效率實(shí)現(xiàn)大幅提高。
光伏組件EL檢測(cè)儀檢測(cè)對(duì)象
單組件檢測(cè) | 支架上組件測(cè)試 | 室內(nèi)組件測(cè)試 |
室外組件測(cè)試 | 燈光下組件測(cè)試 | 白天組件測(cè)試 |
晶硅組件測(cè)試 | 薄膜組件測(cè)試 | CIGS組件測(cè)試 |
弱電流測(cè)試
高電流測(cè)試 | 6~10A 高電流隱裂缺陷測(cè)試 |
低電流測(cè)試 | 0.1~5A 弱電流衰減測(cè)試（可進(jìn)行0.1A檢測(cè)成像） |
| LX-Z220 | ||
| 分辨率 | 4500*6400 | 5000*6000 |
| 芯片 | CMOS感光芯片（7代芯片） | CCD感光芯片（9代芯片） |
| 對(duì)焦方式 | 平面全自動(dòng)對(duì)焦（無(wú)需紅外燈補(bǔ)光或軟件視頻即時(shí)取景對(duì)焦），達(dá)到免對(duì)焦性能，即移即測(cè) | |
| 空間精度 | 0.1 mm/pixel （拍照檢測(cè)） | 0.1 mm/pixel （拍照檢測(cè)），2K（視頻掃描） |
| 檢測(cè)組件類型 | 晶硅組件、薄膜組件、雙玻組件、HIT組件、CIGS組件、高效銦鎵砷組件； 來(lái)料組件測(cè)試、支架上組件測(cè)試 | |
| 可成像組件數(shù)量 | 可同步檢測(cè)1~12塊組件（高清EL檢測(cè)） 可同步檢測(cè)22~30塊組件（失配檢測(cè)） | 可同步檢測(cè)1~12塊組件（高清EL檢測(cè)） 可同步檢測(cè)22~30塊組件（失配檢測(cè)） 手持掃描檢測(cè)效率 10塊組件15秒 |
| 檢測(cè)周期 | 15~30s（上電，移動(dòng)并定位支架，檢測(cè)成像，再次移動(dòng)至下個(gè)檢測(cè)點(diǎn)） | |
| 恒流穩(wěn)壓源 |
| 組串式恒流穩(wěn)壓源（進(jìn)口） 1、電壓 0~1000V，精度±1‰ 2、電流 0~10A，精度±1% 3、輸入AC220 /AC380 /AC480 4、程控功能及內(nèi)部穩(wěn)定控溫功能 5、深580*寬440*高160 （mm） 6、重量＜25kg ☆超低紋波 @20mVrms （I/O模擬量、 Lan、 RS232、 US |