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| 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源 |
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
產(chǎn)品應(yīng)用：便捷式EL檢測(cè)設(shè)備用于光伏電站現(xiàn)場(chǎng)運(yùn)維檢測(cè)、電站工程商來(lái)料組件缺陷檢測(cè)等。
● 產(chǎn)品特點(diǎn)
1、產(chǎn)品體量小、輕便、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、安裝方便。
2、可在平板電腦、電腦或手機(jī)端安排測(cè)試APP后進(jìn)行一鍵式快速拍照。
3、自動(dòng)對(duì)焦，WIFI傳輸。
4、2400萬(wàn)高像素，缺陷檢測(cè)圖像清晰、放大后細(xì)節(jié)處完美展現(xiàn)、一目了然。
● 產(chǎn)品功能
用于檢測(cè)組件（太陽(yáng)能板）內(nèi)部各種缺陷：斷柵、隱裂、破片、碎片、虛焊、燒結(jié)網(wǎng)紋、黑芯、黑邊、混檔、低效率片、邊緣過(guò)刻、PID、衰減、熱斑衰減等。
便捷式EL檢測(cè)設(shè)備參數(shù)規(guī)格
檢測(cè)對(duì)象 Detection object
單組件檢測(cè) | 支架上組件測(cè)試 | 室內(nèi)組件測(cè)試 |
室外組件測(cè)試 | 燈光下組件測(cè)試 | 白天組件測(cè)試 |
晶硅組件測(cè)試 | 薄膜組件測(cè)試 | CIGS組件測(cè)試 |
弱電流測(cè)試 Weak light test
高電流測(cè)試 | 6~10A 高電流隱裂缺陷測(cè)試 |
低電流測(cè)試 | 0.1~5A 弱電流衰減測(cè)試（可進(jìn)行0.1A檢測(cè)成像） |