不同的隱裂，對電池片功能造成的影響是不一樣的。先來看一張電池片的放大圖。

　　圖2：晶硅電池片結構

　　根據(jù)晶硅電池的結構，如上圖，電池片產生的電流要依靠“表面的主柵線及垂直于主柵線的細柵線”搜集和導出。當隱裂導致細柵線斷裂時，細柵線無法將收集的電流輸送到主柵線，將會導致電池片部分甚至全部失效。

EL（Electroluminescence，電致發(fā)光）是簡單有效的檢測隱裂的方法。光伏組件隱裂EL檢測儀其檢測原理如下。

　　電池片的核心部分是半導體PN結，在沒有其它激勵（例如光照、電壓、溫度）的條件下，其內部處于一個動態(tài)平衡狀態(tài)，電子和空穴的數(shù)量相對保持穩(wěn)定。

　　如果施加電壓，半導體中的內部電場將被削弱，N區(qū)的電子將會被推向P區(qū)，與P區(qū)的空穴復合（也可理解為P區(qū)的空穴被推向N區(qū)，與N區(qū)的電子復合），復合之后以光的形式輔射出去，即電致發(fā)光。

　　當被施加正向偏壓之后，晶體硅電池就會發(fā)光，波長1100nm左右，屬于紅外波段，肉眼觀測不到。因此，在進行EL測試時，需利用CCD相機輔助捕捉這些光子，然后通過計算機處理后以圖像的形式顯示出來。

小結

　　1）隱裂有多種，并不是所有的隱裂都會影響電池片的性能；

　　2）在組件生產、運輸、安裝和維護過程中，考慮到晶硅組件的易裂特征，還需在各工序段和搬運、施工過程中改進和細化作業(yè)流程，減小組件隱裂的可能性。

　　3）EL是簡單有效的檢測隱裂的方法。 

光伏組件隱裂EL檢測儀配置清單