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瑞士萬通XDS IOPA 近紅外光譜分析儀簡介

儀器特性及優(yōu)勢• XDS NIR 技術確保使用簡單和定標的無縫轉移• 快速斷開式探頭，優(yōu)化了固體和液體的測量• 無需樣品制備，無需試劑。可快速無損地分析固體粉末、較大顆粒、丸劑或片劑。材料測定或成分檢測可在實驗室中或以在線方式對原包裝中、袋子或樣品瓶中的樣品進行。選裝的可調(diào)光點尺寸，可根據(jù)樣品的物理屬性來調(diào)整樣品照明。

XDS IOPA 近紅外光譜分析儀是為取代常規(guī)試驗、縮短產(chǎn)品滯留時間，小化實驗室分析時間而設計的。XDS IOPA 近紅外光譜分析儀可用于實驗室反應監(jiān)測，并作為中試過程應用的補充方案。XDS IOPA 近紅外光譜分析儀配有兩種探頭：反射探頭和浸入探頭。反射探頭適用于掃描固體、高度分散的液體和漿液。浸入探頭分析水狀產(chǎn)品、透明液體和溶劑。XDS IOP 分析儀的光纖式設計允許其在苛刻危險的取樣環(huán)境中直接使用。

XDS NIR 技術不僅帶來了*的分析性能，同時加快了了定標方法的研發(fā)，縮短了實施時間，保證了定標的無縫轉移。使用*、界面友好、具有聯(lián)網(wǎng)能力的 Vision®軟件可以輕松實現(xiàn)鑒定、定性和定量等方法。按下一個按鍵或單擊鼠標就能完成精準的分析。

瑞士萬通XDS IOPA 近紅外光譜分析儀特性及優(yōu)勢

• XDS NIR 技術確保使用簡單和定標的無縫轉移

• 快速斷開式探頭，優(yōu)化了固體和液體的測量

• 無需樣品制備，無需試劑，無任何廢棄物

• 面向集中數(shù)據(jù)庫管理的網(wǎng)絡分析儀

• 熱插拔模塊 — 幾分鐘內(nèi)即可完成更換，不會影響性能