納米壓痕測試儀(Nanoindentor)儀器簡介：

公司在原有NHT納米壓痕測試儀的基礎(chǔ)上，推出了NHT2 （NHT第二代）納米壓痕測試儀 (0.1-500mN) 。

NHT2納米壓痕儀主要用于測量納米尺度的硬度與彈性模量，可以用于研究或測試薄膜等納米材料的接觸剛度、蠕變、彈性功、塑性功、斷裂韌性、應力-應變曲線、疲勞、存儲模量及損耗模量等特性。可適用于有機或無機、軟質(zhì)或硬質(zhì)材料的檢測分析，包括PVD、CVD、PECVD薄膜，感光薄膜，彩繪釉漆，光學薄膜，微電子鍍膜，保護性薄膜，裝飾性薄膜等等?；w可以為軟質(zhì)或硬質(zhì)材料，包括金屬、合金、半導體、玻璃、礦物和有機材料等。

top reference（表面參比測試技術(shù)）設(shè)計，NHT2 納米壓痕儀將熱漂移效應（thermal drift）降低到了0.02nm/s的水平。

NHT2納米壓痕測試儀同時具備了納米測試系統(tǒng)所具有的豐富的測量模式，如恒應變速率加載、視頻定位壓入、沖擊模式等。通過納米力學平臺的設(shè)計，客戶可以選擇其它豐富的選件構(gòu)建全套的納米力學綜合測試系統(tǒng)。如AFM原子力顯微鏡同步成像、微米壓痕模塊、微米或納米劃痕模塊、微納米摩擦磨損模塊、變溫、濕度控制、真空環(huán)境等等。

納米壓痕測試儀(Nanoindentor)技術(shù)參數(shù)：

載荷范圍：0-500mN

載荷分辨率：40nN

大壓入深度：200um

位移分辨率：0.004nm

NHT2納米壓痕測試儀的主要特點：

參比環(huán)設(shè)計-實時消除大部分熱漂移

帶有反饋系統(tǒng)的載荷加載系統(tǒng)

試樣夾具可夾持各種尺寸試樣（無需用膠粘結(jié)試樣）

金相顯微鏡觀測系統(tǒng)

計算機軟件包，自動進行數(shù)據(jù)獲取、儲存、分析等

豐富、靈活的擴展空間

選件：

其它力學測試模塊（如微納米劃痕、超納米壓痕等）

真空及環(huán)境(溫度、濕度）控制

原子力顯微鏡成像系統(tǒng)

環(huán)境隔離罩

多功能納米壓痕儀選型：

4D緊湊型

多功能納米壓痕儀4D緊湊型是球結(jié)構(gòu)為緊湊小巧的納米硬度測試儀，它采用納米壓痕法測量材料硬度和彈性模量（楊氏模量），負載高達2N，廣泛用于材料力學性能測量研究。也非常適合大學或研究單位的納米壓痕儀測量硬度的教學或演示教學。

4D標準型

多功能納米壓痕儀4D標準型具有測量材料硬度，彈性模量和其它力學性能的功能。它采用靜態(tài)和動態(tài)納米壓痕技術(shù)以及sclerometry方法測量材料性能。并且可以接觸式或半接觸式地測量材料表面形貌，采用光學顯微鏡高精度地對壓頭和樣品進行互動性定位。

多功能納米壓痕儀4D標準型還可以接入另外的傳感器或測量模塊，實現(xiàn)對材料表面進行其它測量。

4D+增強型

多功能納米壓痕儀4D+增強型配置是球功能多的多功能納米硬度測量儀器。它具有納米壓痕儀和原子力顯微鏡的功能，具備了所有的物理和力學性能測量能力。它具有原子力顯微鏡測量模塊，能夠以納米級分辨率研究壓痕后留下的表面痕跡和圖像，并能夠全自動測量，可以批量處理分析測量結(jié)果。

3D緊湊型

緊湊型3D納米壓痕儀用于研究微小樣品的表面形貌輪廓和力學特性，它采用掃描探針顯微鏡SPM技術(shù)和納米壓痕方法，提供高達50mN的負載，非常適合物理學，材料學和力學專業(yè)用于亞微米和納米尺度的教學研究。

3D標準型

用于負載物理和力學性質(zhì)的研究，負載為100mN，裝備有光學顯微鏡和電動樣品臺用于樣品定位，高效率自動化加載提高了測量效率。

3Di型

裝配有掃描探針顯微鏡SPM和激光干涉儀。