一、概述

       SR-Mapping 反射膜厚儀系列利用反射干涉的原理進行無損測量，通過分析薄膜表面反射光和薄膜與基底界面反射光相干涉形成的反射譜，同時搭配R-Theta位移臺，兼容6到12寸樣品，可以對整個樣品進行快速掃描，快速準確測量薄膜厚度、光學常數(shù)等信息，并對于膜厚均勻性做出評價。

■ 光學薄膜測量解決方案；

■ 非接觸、非破壞測量；

■ 核心算法支持薄膜到厚膜、單層到多層薄膜分析；

■ 膜厚重復性測量精度：0.02nm

■ 全自動測量，測量點數(shù)跟位置在Recipe中可根據(jù)需要編輯 

■ 采用高強度鹵素燈光源，光譜覆蓋紫外可見光到近紅外范圍；

■ 采用光機電高度整合一體化設(shè)計，體積小，操作簡便；

■ 基于薄膜層上界面與下界面的反射光相干涉原理，輕松解析單層薄膜到多層；

■ 配置強大核心分析算法：FFT分析厚膜、曲線擬合分析法分析薄膜的物理參數(shù)信息；

三、產(chǎn)品應(yīng)用 

廣泛應(yīng)用于各種介質(zhì)保護膜、有機薄膜、無機薄膜、金屬膜、涂層等薄膜測量。

技術(shù)參數(shù)