超快TEM解決方案Euclid Techlabs LLC 提供獨立開發(fā)的超快脈沖發(fā)生器系統(tǒng)，將傳統(tǒng)的 TEM 轉換為時間分辨TEM。 該脈沖發(fā)生器將頻閃時間分辨率引入現(xiàn)有 TEM 系統(tǒng)，而不會降低其原有性能。為了保持原始光束質量，并在脈沖發(fā)生器關閉時對正常操作的影響最?。ɡ硐肭闆r下沒有），我們可能建議將脈沖發(fā)生器電子槍和聚光透鏡之間。

Euclid Techlabs LLC 提供獨立開發(fā)的超快脈沖發(fā)生器系統(tǒng)，將傳統(tǒng)的 TEM 轉換為時間分辨TEM。 該脈沖發(fā)生器將頻閃時間分辨率引入現(xiàn)有 TEM 系統(tǒng)，而不會降低其原有性能。為了保持原始光束質量，并在脈沖發(fā)生器關閉時對正常操作的影響最小（理想情況下沒有），我們可能建議將脈沖發(fā)生器電子槍和聚光透鏡之間。

超快TEM解決方案簡介：

UltraFast Pulser (UFP) 是一種電磁模塊，安裝在現(xiàn)有的電子顯微鏡中，可以使電子束產生脈沖。

• 脈沖束可以從重頻率高達 12 GHz 的單電子模式調整為連續(xù)操作（本機儀器）。

• 只需要模塊和驅動電子設備。

• 與傳統(tǒng)的基于激光的超快技術相比，它是一種更簡單、更實惠的方法。

超快TEM解決方案技術參數(shù)：

• 能量范圍：100 keV至300 keV

• 電子束頻閃率：15MHz~12GHz（電激發(fā)）

• 電子脈沖長度：5ps~period-1us（電激發(fā)）

• 輻射安全

• 與 TEM 腔真空兼容

• 在電激發(fā)下保持TEM 的原始固有空間分辨率。

 

應用：

•      Low-damage/Low-dose電子顯微鏡

–     CryoEM

–     LDA研究，生物大分子

–     超敏感分子的特性研究

–     蛋白質

–     納米工程結構分析

•      室溫Low-damage顯微鏡

–     提高有機材料表征時的總電子劑量

–     直流束流的晶體衰落值增加2倍（紅色箭頭）

•      電子全息技術

•      電子三維重構

•      時間分辨顯微鏡

–     泵浦探針頻閃顯微鏡（射頻泵浦，束流探頭）

–     在射頻激勵下確定MEM器件中的電場特性

       1.    磁性和等離子設備的自旋電子學

       2.    NEMS / MEMS高頻設備