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磁光學(xué)橢偏儀（HO-A216MOE-PH）
閱讀：17 發(fā)布時(shí)間：2024-11-29Holmarc 推出了一種利用 VIS-NIR 波長的創(chuàng)新型高靈敏度和高磁場光譜橢偏測量設(shè)備。HOLMARC A216 測試站提供標(biāo)準(zhǔn)化的測試解決方案，適
用于各種光學(xué)旋轉(zhuǎn)測量應(yīng)用。模塊化硬件設(shè)計(jì)允許用戶在磁場和無磁場條件下自動測量液體、固體和薄膜樣品。專為磁光學(xué)材料研究和測試而設(shè)計(jì)，包括鐵磁和鐵磁薄膜和材料的磁特性分析。測量包括超薄磁性薄膜和多層膜的磁滯回線、橢圓度測量、介電材
料薄膜厚度測量、折射率、Delta 和 psi 測量等。系統(tǒng)可在極性、縱向和橫向配置下運(yùn)行。
規(guī)格
光源：Spectra 鹵素?zé)?、氘?鹵素?zé)艋螂?/span>
單色儀 ： Quasar 300F Czerny-Turner 型
波長范圍：350 - 900 納米
準(zhǔn)直和聚焦鏡：50 毫米直徑，300 F
光學(xué)光柵：1200 l / mm
光譜色散：2.6 nm / mm
光柵尺寸：50 x 50 毫米
絕對衍射效率：45 - 65
狹縫寬度：0 ~ 3 mm 連續(xù)可調(diào)
分辨率：0.1 納米
波長精度：0.2 nm
波長重復(fù)性：0.1 nm
雜散光：10-3
線性色散的倒數(shù)：2.7 毫米
光譜線半寬：0.2 nm @ 586 nm
偏振分析方法：旋轉(zhuǎn)分析方法
ARMS ： 步進(jìn)電機(jī)控制自動定位
光斑直徑：1 - 5 毫米
薄膜支架 樣品尺寸：1 - 12 mm
(可根據(jù)要求提供定制支架）
比色皿：10 毫米路徑長度石英比色皿
樣品室選項(xiàng)：高/低溫樣品架
樣品進(jìn)樣裝置：步進(jìn)電機(jī)控制自動定位系統(tǒng)
電磁單元：PC 控制恒流操作
冷卻方式：水冷
最大磁場：1.75 特斯拉 @ 12 毫米磁極間隙
最小磁場 磁場檢測：1 高斯
磁場精確度：± 0.05
磁場檢測：基于霍爾探針（基于 PC 的磁場測量）
磁場反饋 ： 霍爾元件
冷卻器：5 ~ 25°C 冷凍水（用于冷卻電磁鐵）
容量：2 升/分鐘
電磁鐵電源：雙極型（最大 ± 90 V/5A）
電磁鐵電源：2.5 kVA AC 220V 50Hz
控制裝置：1 kVA AC 220V 50Hz
軟件 ： Spectra ORMS 軟件
功能
350 - 900 nm 測量范圍
0.005 度光學(xué)旋轉(zhuǎn)分辨率
全自動控制
磁場檢測和反饋設(shè)備
MOKE 測量
橢偏測量
性能
光學(xué)旋轉(zhuǎn)測量分辨率：± 0.009 度
檢測靈敏度：0.009 度（透明度大于 20%）。
穩(wěn)定性：0.03 度（透明度大于 20 % 時(shí)）。
橢圓度測量：± 0.01 度。
光學(xué)旋轉(zhuǎn)測量范圍：± 90 度。
測量波長范圍：350 - 900 nm
光譜帶寬：1 納米（可變帶通高達(dá) 10 納米）
最大磁場：17,500 高斯
最小磁場 磁場檢測：1 高斯
磁場精確度：± 0.05
測量項(xiàng)目
或 測量具有法拉第效應(yīng)的薄膜、晶體、流體等
測量透明固體和液體的維爾德常數(shù)
法拉第旋轉(zhuǎn)角/橢圓角
極性克爾旋轉(zhuǎn)角/橢圓度角
所需波長下的磁場與法拉第旋轉(zhuǎn)角特性的關(guān)系
法拉第旋轉(zhuǎn)角 vs. 波長色散特性
法拉第旋轉(zhuǎn)角與熱依賴性（可選）
測量光學(xué)特性
光學(xué)旋轉(zhuǎn)
薄膜厚度
折射率
吸收系數(shù)
光導(dǎo)率
相速度
群指數(shù)
布儒斯特角
空氣折射率
摩爾折射率
光子能量
典型動量
動量
群速度
PSI - Δ
ε1和2