CCD線掃描傳感器ZS16D

非接觸尺寸測量

所述ZS16D是與用于非接觸三維測量非常高的分辨率的CCD線掃描傳感器。通過鏡頭將待測物體成像到ZS16D中的線性CCD陣列上。鏡頭確定測量范圍。標(biāo)準(zhǔn)鏡頭可覆蓋2毫米至2000毫米的測量范圍。

具有8位并行數(shù)據(jù)輸出的總線接口用于讀取測量值。

ZS16D設(shè)計為在9.5 – 18.5 V直流電壓下工作。

ZS16D的特性

• 高分辨率1：16000（插值）
• 測量范圍2 mm-2000 mm
• 高靈敏度，可縮短曝光時間
• 掃描速率高達1000 / s
• 掃描寬度窄
• 一次掃描可檢測多達512個邊緣位置
• 數(shù)字量輸出
• 多同步8個傳感器

CCD線掃描傳感器ZS16D

引伸計概述

引伸計是一種在材料測試（例如拉伸測試）過程中測量材料樣品應(yīng)變的儀器。原則上，引伸計有兩種類型：接觸式和非接觸式。接觸測量可以通過夾式引伸計進行；這種儀器具有至少兩個機械地連接到樣本的邊緣。拉伸樣本會導(dǎo)致邊緣之間的距離變長，這與樣本長度的變化相對應(yīng)。

對于非接觸式測量，使用模擬或數(shù)字光學(xué)引伸計。為了測量材料樣品上的應(yīng)變，樣品通常帶有黑白標(biāo)記。引伸計內(nèi)的傳感器檢測標(biāo)記的運動，從而檢測拉伸試驗期間長度的變化。有引伸計，即使材料樣品溫度非常高（高達3000°C），它們也能夠測量非?？斓膽?yīng)變（> 100 m / s）。

在拉伸試驗中，非接觸式測量裝置是有利的。通?？梢詫⑺鼈冊O(shè)置在距樣品一定距離的位置，以防止樣品的飛散碎片損壞測量儀器。因此，光學(xué)引伸計也適用于破壞性材料測試期間的測量。

H.-D. Rudolph GmbH提供各種類型的光學(xué)引伸計：

• 引伸計200XR可進行高達500 kHz的非?？焖俚臏y試
• CMOS線掃描傳感器ZS64A5K每秒可實現(xiàn)1：64000和4673測量的高分辨率
• 線掃描傳感器ZS16A分別是速度更快的版本ZS16AHS，可實現(xiàn)1：16000的高分辨率和高穩(wěn)定性
• 引伸計ZS32和ZS32HS分別具有1：32000的分辨率