產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子 |
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測試步驟可對(duì)光電探頭進(jìn)行定位和對(duì)準(zhǔn)
支持陣列/單光纖探頭、邊緣和表面耦合、射頻/直流探頭以及靈活的探頭方向(東/西/南/北)
自動(dòng)器件步進(jìn)和探針臺(tái)狀態(tài)控制
測量測試計(jì)劃和器件數(shù)據(jù)管理(導(dǎo)入/導(dǎo)出/編輯器件坐標(biāo)、器件元參數(shù)和測試條件)
參考價(jià) | 面議 |
更新時(shí)間:2024-02-19 15:39:33瀏覽次數(shù):1123
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是德keysight N7700210C 晶圓探針臺(tái)TAP插件
Keysight PathWave 測試自動(dòng)化平臺(tái)(TAP)是一款基于 Microsoft ./NET 的現(xiàn)代化應(yīng)用軟件,既可以獨(dú)立使用,也可以與更高級(jí)的測試執(zhí)行軟件環(huán)境結(jié)合使用。儀器插件所提供的測試步驟可以添加到工作流程序列中,并且無需使用儀器級(jí)的編程命令。N7700210C 晶圓探針臺(tái)插件能夠控制與 Formfactor 半自動(dòng)探針臺(tái)硬件以及 Formfactor Velox 和硅光工具軟件的接口,使自動(dòng)化測試變得更簡單。在一個(gè)測試計(jì)劃中,測試步驟可以完成晶圓卡盤移動(dòng)以及探頭定位和對(duì)準(zhǔn)等任務(wù),并且可與儀器測試執(zhí)行步驟結(jié)合使用。測試步驟中還包括對(duì)晶圓探針臺(tái)定位設(shè)置、射頻探頭和光探頭的簡單配置。
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