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ZETA電位粒度分析儀簡介：

在原有的經(jīng)典型號380ZLS基礎(chǔ)上升級配套而來，采用動態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理檢測分析顆粒的粒度分布，粒徑檢測范圍 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析軟件復(fù)合采用了高斯（ Gaussian）單峰算法和擁有*技術(shù)的 Nicomp 多峰算法，對于多組分、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有*優(yōu)勢。

ZETA電位粒度分析儀參數(shù)：

1、高靈敏度PMT檢測器；

2、可搭配不同功率光源；

3、準確度高，接近樣品真實值；

4、可測試水相及有機相樣品的粒度及Zeta電位；

5、快速檢測，可以追溯歷史數(shù)據(jù)；

6、結(jié)果數(shù)據(jù)以多種形式和格式呈現(xiàn)；

7、符合USP,CP等個多藥典要求；

8、無需校準；

9、復(fù)合型算法：

（1）高斯（Gaussion）正態(tài)粒度分布與*的Nicomp多峰分布算法自由切換

（2）頻率（Frequency）Zeta電位分析法與*的相位（Phase）分析法自由切換

10、模塊化設(shè)計便于維護和升級；

（1）可自動稀釋模塊（選配）；

（2）自動進樣系統(tǒng)（選配）；

（3）搭配多角度檢測器（選配）；

Nicomp系列儀器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切換。其不僅可以給出傳統(tǒng)的DLS系統(tǒng)的結(jié)果，更可以通過Nicomp多峰分布模式體現(xiàn)樣品的準確情況。依托于Nicomp系列儀器一系列優(yōu)異的算法和高靈敏性的硬件設(shè)計，Nicomp納米激光粒度儀可以有效區(qū)分1:2的多分散體系。

ZETA電位分析儀優(yōu)勢：

模塊化設(shè)計

Nicomp Z3000納米激光粒度儀是全*在應(yīng)用動態(tài)光散射技術(shù)上的基礎(chǔ)上加入多模塊方法的*進粒度儀。隨著模塊的升級和增加，Nicomp 的功能體系越來越強大，可以用于各種復(fù)雜體系的檢測分析。

選配 21CFR Part 11法規(guī)軟件——符合cGMP要求

Nicomp系列儀器全系配備了符合美國聯(lián)邦法規(guī)21章第11款（21 CFR PART11）要求的軟件。具有數(shù)據(jù)自動備份，審計追蹤，權(quán)限分級，電子簽名，可連接Lims系統(tǒng)等多項功能。

中國食品藥品監(jiān)督管理局（NMPA）有政策趨勢將對醫(yī)藥研發(fā)企業(yè)實施規(guī)范的GLP 管理。使用符合21 CFR PART 11法規(guī)的軟件更能符合現(xiàn)在GLP/GMP的要求。