參考價(jià)	面議

傳感器檢測(cè)

SPAD檢測(cè)

圖像傳感器/顯示屏指紋

檢測(cè)照明器

Enlitech

價(jià)格區(qū)間	面議	應(yīng)用領(lǐng)域	電子/電池,汽車及零部件
暗計(jì)數(shù)(Dark?Count?Rate)	DCR	產(chǎn)地類別	進(jìn)口
測(cè)量模式	咨詢光焱科技專家

單光子探測(cè)器可以對(duì)單個(gè)光子進(jìn)行探測(cè)和計(jì)數(shù)，在許多可獲得的信號(hào)強(qiáng)度僅為幾個(gè)光子能量級(jí)的新興套用中，單光子探測(cè)器可以一展身手。SPD2200是針對(duì)新型的單光子偵測(cè)器（SPD, Single Photon Detector），如應(yīng)用於dToF的SPAD（Single Photon Avalanche Detector）光感測(cè)器，的特性測(cè)試分析設(shè)備。

詳細(xì)介紹

特色

SPD2200具備全光譜性能測(cè)試包含：

*全光譜光譜回應(yīng)（SR， Spectral Responsivity）

*全光譜量子效率（EQE， External Quantum Efficiency）

*全光譜光子探測(cè)率（PDP， Photon Detection Probability）

*暗計(jì)數(shù)DCR （Dark Count Rate）

*崩潰電壓BDV （Break-Down Voltage）

SPD2200亦能夠測(cè)試SPD的單光子辨析特性分析，包含：

*Jitter

*Afterpulsing probability

*Diffusion tail

*SNR

SPD2200整合了所有*進(jìn)光學(xué)與電學(xué)系統(tǒng)，搭配光焱科技多年光感測(cè)器測(cè)試與分析的經(jīng)驗(yàn)，提供完整與便利的軟體控制介面與分析功能。 SPD2200可幫助您節(jié)省系統(tǒng)搭設(shè)的時(shí)間成本，並降低測(cè)試結(jié)果的不確定性。加快產(chǎn)品的開發(fā)週期，提升產(chǎn)品的競(jìng)爭(zhēng)力。