技術(shù)規(guī)格

產(chǎn)品概述

PID測(cè)試潛在電勢(shì)誘導(dǎo)衰減（potential Induced Degradation)，組件長(zhǎng)期在高電壓工作，在蓋板玻璃、封裝材料、邊框之間存在漏電流，大量電荷聚集在電池片表面，使得電池片表面的鈍化效果惡化，導(dǎo)致填充因子、短路電流、開(kāi)路電壓降低，使組件性能低于設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)；PID測(cè)試目的是為驗(yàn)證組件經(jīng)受高強(qiáng)度電壓性能變化的能力。銘電推出的PID測(cè)試系統(tǒng)滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC61215-2 MQT21，簡(jiǎn)潔、高效、使用便捷靈活，極大地方便用戶進(jìn)行PID的測(cè)試實(shí)驗(yàn)。

主要特點(diǎn)

●  滿足標(biāo)準(zhǔn) IEC61215-2 MQT21

●  多路輸出，可根據(jù)實(shí)際需求自由選擇搭配輸出通道數(shù)量

●  各通道電壓獨(dú)立設(shè)定輸出，極性可獨(dú)立設(shè)定

●  通道真正獨(dú)立，若其中一通道發(fā)生故障不影響其他通道工作

●  電壓設(shè)定范圍從 -2000V~+2000V 可連續(xù)設(shè)定，其他規(guī)格輸出電壓可定制選配

●  漏電流報(bào)警設(shè)置從 0-500μA

●  可以監(jiān)測(cè)環(huán)境試驗(yàn)箱溫度 & 濕度（需提供試驗(yàn)箱通訊指令）

●  測(cè)試時(shí)間可根據(jù)實(shí)際需求自由設(shè)定