二維材料轉(zhuǎn)移系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
二維材料轉(zhuǎn)移系統(tǒng)，可用于機(jī)械解理的各種二維材料的轉(zhuǎn)移及二維材料范德華異質(zhì)結(jié)的堆疊，尤其適用于二維材料的精準(zhǔn)轉(zhuǎn)角調(diào)控。樣品可以多方向多角度的相對移動，大氣環(huán)境下也...
超高真空微型光柵尺 參考價(jià)：面議
超高真空微型光柵尺SMG26特點(diǎn)，體積小，結(jié)構(gòu)緊湊，適用于超高真空使用，良好的耐高溫性，最高可達(dá)100℃，SMG26系列光柵的柵距為256μm，下表為不同細(xì)分倍...
納米壓電旋轉(zhuǎn)位移臺 參考價(jià)：面議
澤攸科技位移臺作為國產(chǎn)精密儀器的代表，依托壓電陶瓷驅(qū)動技術(shù)實(shí)現(xiàn)了亞納米級運(yùn)動精度與宏觀行程的突破性結(jié)合，解決了傳統(tǒng)設(shè)備在分辨率和行程范圍上的技術(shù)瓶頸。其核心設(shè)計(jì)...
納米壓電旋轉(zhuǎn)位移臺 參考價(jià)：面議
澤攸科技位移臺作為國產(chǎn)精密儀器的代表，依托壓電陶瓷驅(qū)動技術(shù)實(shí)現(xiàn)了亞納米級運(yùn)動精度與宏觀行程的突破性結(jié)合，解決了傳統(tǒng)設(shè)備在分辨率和行程范圍上的技術(shù)瓶頸。其核心設(shè)計(jì)...
原位MEMS 加熱/電學(xué)樣品桿系列 參考價(jià)：面議
原位MEMS加熱/電學(xué)樣品桿系列是一款專為透射電子顯微鏡（TEM）設(shè)計(jì)的實(shí)驗(yàn)工具，旨在滿足納米材料、能源科學(xué)及電子器件研究領(lǐng)域?qū)υ粍討B(tài)表征的需求。該系列產(chǎn)品基...
原位MEMS 氣體/液體樣品桿系列 參考價(jià)：面議
澤攸科技原位MEMS氣體/液體樣品桿系列是一種基于MEMS芯片技術(shù)的創(chuàng)新型透射電鏡（TEM）樣品桿，專為在氣體或液體環(huán)境中進(jìn)行原位測量而設(shè)計(jì)。該系列產(chǎn)品通過在標(biāo)...
TEM-STM樣品桿系列 參考價(jià)：面議
澤攸科技TEM-STM樣品桿系列是一種基于掃描探針技術(shù)的創(chuàng)新性原位透射電鏡（TEM）測量工具，為納米科學(xué)研究提供了全新的視角和手段。該系列產(chǎn)品將掃描探針控制單元...
原位冷凍樣品桿系列 參考價(jià)：面議
原位冷凍樣品桿系列是一款專為透射電子顯微鏡（TEM）設(shè)計(jì)的實(shí)驗(yàn)工具，旨在滿足材料科學(xué)、生命科學(xué)等領(lǐng)域?qū)Φ蜏丨h(huán)境下樣品表征的需求。該系列產(chǎn)品基于標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡...
納米壓電旋轉(zhuǎn)位移臺 參考價(jià)：面議
澤攸科技位移臺作為國產(chǎn)精密儀器的代表，依托壓電陶瓷驅(qū)動技術(shù)實(shí)現(xiàn)了亞納米級運(yùn)動精度與宏觀行程的突破性結(jié)合，解決了傳統(tǒng)設(shè)備在分辨率和行程范圍上的技術(shù)瓶頸。其核心設(shè)計(jì)...
SEM納米力測量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
PicoFemto NI-100掃描電鏡納米力學(xué)樣品臺是澤攸科技推出的一款專注于材料變形行為和微觀失效機(jī)制研究的科研設(shè)備。該系統(tǒng)作為一款集成化的解決方案，能夠精...
SEM低溫/冷凍真空傳輸系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
澤攸科技的SEM低溫/冷凍真空傳輸系統(tǒng)是一款專為掃描電子顯微鏡（SEM）設(shè)計(jì)的先進(jìn)設(shè)備，旨在滿足在極低溫度條件下對樣品進(jìn)行觀察和分析的需求，同時(shí)確保樣品能夠保持...
納米探針臺 參考價(jià)：面議
SEM納米探針臺由澤攸科技研發(fā)，是一款具有高性能的科研設(shè)備，特別適用于需要高精度三維空間定位的研究領(lǐng)域。這款探針臺不僅具備小尺寸大行程、高精度以及易操作等優(yōu)點(diǎn)，...
干式液氦溫區(qū)探針臺 參考價(jià)：面議
澤攸科技干式液氦溫區(qū)探針臺是一款專為樣品非破壞性檢測和真空潔凈環(huán)境設(shè)計(jì)的高精度測試設(shè)備，廣泛應(yīng)用于直流（DC）、射頻（RF）、MEMS、納米電子、超導(dǎo)性、量子點(diǎn)...
低溫液氮探針臺 參考價(jià)：面議
低溫液氮探針臺是一種先進(jìn)的科研設(shè)備，專門用于在低溫環(huán)境下對半導(dǎo)體器件、微納材料以及電子元件進(jìn)行高精度的電學(xué)性能測試。它通過液氮制冷系統(tǒng)為樣品提供超低溫環(huán)境，確保...
全自動臺階儀 參考價(jià)：面議
澤攸科技JS系列臺階儀作為國產(chǎn)高精度表面測量設(shè)備的代表，憑借其創(chuàng)新的技術(shù)架構(gòu)、靈活的應(yīng)用場景及可靠的測量性能，在半導(dǎo)體制造、材料科學(xué)、微納技術(shù)等領(lǐng)域展現(xiàn)了顯著優(yōu)...
半自動臺階儀 參考價(jià)：面議
澤攸科技JS系列臺階儀作為國產(chǎn)高精度表面測量設(shè)備的代表，憑借其創(chuàng)新的技術(shù)架構(gòu)、靈活的應(yīng)用場景及可靠的測量性能，在半導(dǎo)體制造、材料科學(xué)、微納技術(shù)等領(lǐng)域展現(xiàn)了顯著優(yōu)...
手動臺階儀 參考價(jià)：面議
澤攸科技JS系列臺階儀作為國產(chǎn)高精度表面測量設(shè)備的代表，憑借其創(chuàng)新的技術(shù)架構(gòu)、靈活的應(yīng)用場景及可靠的測量性能，在半導(dǎo)體制造、材料科學(xué)、微納技術(shù)等領(lǐng)域展現(xiàn)了顯著優(yōu)...
臺式掃描電鏡 參考價(jià)：面議
澤攸科技ZEM系列臺式掃描電子顯微鏡（SEM）憑借其超高的便捷性、創(chuàng)新的技術(shù)設(shè)計(jì)、高分辨率成像能力及多樣化的功能拓展，已成為科研與工業(yè)領(lǐng)域微觀分析的重要工具。該...
臺式掃碼電鏡 參考價(jià)：面議
澤攸科技ZEM系列臺式掃描電子顯微鏡（SEM）憑借其超高的便捷性、創(chuàng)新的技術(shù)設(shè)計(jì)、高分辨率成像能力及多樣化的功能拓展，已成為科研與工業(yè)領(lǐng)域微觀分析的重要工具。該...
臺式掃描電鏡 參考價(jià)：面議
ZEM20臺式掃描電鏡原位拉伸一體機(jī)由澤攸科技生產(chǎn)，具備高分辨率和多功能特性。其加速電壓范圍為3kV至20kV，可進(jìn)行1kV步進(jìn)調(diào)整，最高放大倍率為36萬倍，分...
澤攸科技 參考價(jià)：面議
澤攸科技ZEM系列臺式掃描電子顯微鏡（SEM）憑借其超高的便捷性、創(chuàng)新的技術(shù)設(shè)計(jì)、高分辨率成像能力及多樣化的功能拓展，已成為科研與工業(yè)領(lǐng)域微觀分析的重要工具。該...
臺式掃描電鏡 參考價(jià)：面議
澤攸科技ZEM系列臺式掃描電子顯微鏡（SEM）憑借其超高的便捷性、創(chuàng)新的技術(shù)設(shè)計(jì)、高分辨率成像能力及多樣化的功能拓展，已成為科研與工業(yè)領(lǐng)域微觀分析的重要工具。該...
臺式掃描電鏡 參考價(jià)：面議
澤攸科技ZEM系列臺式掃描電子顯微鏡（SEM）憑借其超高的便捷性、創(chuàng)新的技術(shù)設(shè)計(jì)、高分辨率成像能力及多樣化的功能拓展，已成為科研與工業(yè)領(lǐng)域微觀分析的重要工具。該...
臺式掃描電鏡 參考價(jià)：面議
澤攸科技ZEM系列臺式掃描電子顯微鏡（SEM）憑借其超高的便捷性、創(chuàng)新的技術(shù)設(shè)計(jì)、高分辨率成像能力及多樣化的功能拓展，已成為科研與工業(yè)領(lǐng)域微觀分析的重要工具。該...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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