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貨物所在地:廣東東莞市
所在地: 東莞
更新時(shí)間:2024-11-16 21:00:07
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PicoFemto 系列掃描電子顯微鏡 納米力學(xué)臺(tái) 集成了壓電驅(qū)動(dòng)四軸樣品臺(tái)及定量力學(xué)壓頭,樣品及壓頭兩側(cè)同時(shí)控溫,是開(kāi)展材料納米力學(xué)行為研究的重要工具。
技術(shù)指標(biāo)
力加載指標(biāo) | 加熱控溫 |
1. 載荷大小:0-100mN; | 1. 溫度范圍:室溫至400℃(更高溫度可選); |
2. 位移范圍:100μm; | 2. 控溫精度:±1℃; |
樣品臺(tái)移動(dòng)指標(biāo) | 3. 控溫方式:兩端同時(shí)控溫; |
1. XYZ三軸或XYZT四軸; | 4. 軟件控制; |
2. X軸移動(dòng)行程:±10mm; | |
3. Y軸移動(dòng)行程:±10mm; | |
4. Z軸移動(dòng)行程:±10mm; | |
5. 軟件控制; |
產(chǎn)品選型
納米力學(xué)臺(tái) 同時(shí)可拓展低溫附件。
澤攸科技提供適配Thermofisher/FEI、JEOL、ZEISS、Tescan及ZEPTOOLS等多種掃描電子顯微鏡型號(hào)的納米力學(xué)臺(tái),支持定制。
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)