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貨物所在地:北京北京市
所在地: 北京
更新時間:2024-11-16 21:00:07
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PicoFemto 系列透射電子顯微鏡 原位光學(xué)樣品桿 是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,同時集成光纖單元,可外接光源或光譜儀,開展光電測量及光譜學(xué)分析,大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應(yīng)用領(lǐng)域。
技術(shù)指標(biāo)
電學(xué)測量 | 光纖指標(biāo) |
1.包含一個電流電壓測試單元; | 1.芯徑可選,外徑250um; |
2.電流測量范圍:1nA-30mA; | 2.光纖探針、平頭光纖、光纖透鏡多種方案可選; |
3.電流分辨率:100fA; | 3.光纖快拆接口:SMA、FC等; |
4.電壓輸出范圍:±10V,±150V; | 4.光源可選:4波段半導(dǎo)體激光器、波長連續(xù)可調(diào)氙燈光源; |
5.軟件自動測量:I-V、I-t | 5.光譜儀:根據(jù)用戶具體需求匹配 |
Optomechanical Properties of MoSe2 Nanosheets as Revealed by InSitu Transmission Electron Microscopy
doi.org/10.1021/acs.nanolett.1c03796
Nano Lett. 2022, 22, 2, 673–679
產(chǎn)品選型
原位光學(xué)樣品桿 具有單傾、雙傾兩個版本,用戶可根據(jù)實際實驗需求自行選擇。
澤攸科技提供適配Thermofisher/FEI(賽默飛)、JEOL(日本電子)、Hitachi(日立)各型號透射電子顯微鏡及極靴的不同型號光學(xué)樣品桿,同時保證透射電鏡原有分辨率。
國內(nèi)部分用戶
典型案例
1、透射電鏡內(nèi)的原位光電測量實驗;
2、透射電鏡內(nèi)的陰極發(fā)光(CL)實驗;
3、透射電鏡內(nèi)的原位電致發(fā)光譜實驗。
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