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貨物所在地：北京北京市
所在地： 北京
更新時間：2024-11-16 21:00:07
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PicoFemto 系列透射電子顯微鏡 原位電學(xué)測量樣品桿 是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進行操縱和電學(xué)測量，并在電學(xué)測量的同時，動態(tài)、高分辨地對樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組分、元素價態(tài)進行綜合表征，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應(yīng)用領(lǐng)域。
技術(shù)指標(biāo)
| 電學(xué)測量 | 力學(xué)操縱 |
| 1.包含一個電流電壓測試單元； | 1.探針粗細調(diào)方式：全軟件操控； |
| 2.電流測量范圍：1nA-30mA； | 2.粗調(diào)范圍：XY方向2.5mm，Z方向1.5mm； |
| 3.電流分辨率：100fA； | 3.細調(diào)范圍：XY方向18um，Z方向1.5um； |
| 4.電壓輸出范圍：±10V，±150V； | 4.細調(diào)分辨率：XY方向0.4nm，Z方向0.04nm； |
| 5.軟件自動測量：I-V、I-t |
產(chǎn)品選型
原位電學(xué)測量樣品桿 具有單傾、雙傾兩個版本，用戶可根據(jù)實驗需求自行選擇。
澤攸科技提供適配Thermofisher/FEI（賽默飛）、JEOL（日本電子）、Hitachi（日立）各型號透射電子顯微鏡及極靴的不同型號樣品桿，同時保證透射電鏡原有分辨率。
國內(nèi)部分用戶
典型案例
1、透射電鏡內(nèi)的原位電學(xué)實驗；
2、透射電鏡內(nèi)的原位壓縮、拉伸實驗。
(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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