泰勒霍普森

泰勒霍普森輪廓儀 設(shè)計(jì)和生產(chǎn)的優(yōu)勢

泰勒霍普森圓度儀超高重復(fù)精度 - 30 nm PV (3σ)

泰勒霍普森圓度儀穩(wěn)定性 - Power 變化 < ± 15 nm (3σ), PV 變化 < ± 1.5 nm (3σ)

泰勒霍普森圓度儀幾何特征分析 - 如與光學(xué)表面相關(guān)的定位鎖緊面和邊緣直徑

泰勒霍普森圓度儀超薄透鏡 - 最小厚度可達(dá) 100 μm

泰勒霍普森圓度儀真正3D的高速測量 - < 120 秒 - 光學(xué)表面和空間幾何特征測量*，< 60 秒 - 僅測量光學(xué)表面**

LUPHOScan 50 SL - 3D Analysis

* 如平面、坎合面和邊緣直徑

** 取決于幾何形狀和橫向分辨率

非接觸式3D手機(jī)鏡頭測量系統(tǒng)

LUPHOScan SL 適用于小透鏡的大批量測量，主要優(yōu)勢包括超快的測量速度和透鏡幾何特征的測量能力。